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J-GLOBAL ID：200903088008401829
電磁界解析方法及び電磁界解析プログラムを記録した記録 媒体
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997157493
Publication number (International publication number)：1998307161
Application date： May. 30, 1997
Publication date： Nov. 17, 1998
Summary：
【要約】【課題】 本発明は、有限差分時間領域法を用いた電磁界解析方法において問題であった線状導体の断面半径rと格子の長さdとがd/2<r<dの場合に、格子の長さを必要以上に小さくすることなく、解析対象物を含む解析空間をモデル化して電磁界の解を得ることができる電磁界解析方法及び電磁界解析プログラムを記録した記録媒体を提供することを目的とする。【解決手段】 前記線状導体の中心を直交する2本のラインが通るように配置し、該2本のラインの両側の4つの格子を前記線状導体に接するように配置して、前記線状導体を直方導体で近似すると共に、前記4つの格子とその外側に隣接する格子との間に少なくとも1本の格子を構成するラインを挿入して前記線状導体を含む解析空間をモデル化したことを特徴とする電磁界解析方法及び電磁界解析プログラムを記録した記録媒体である。
Claim (excerpt)：
解析対象物である断面半径rの線状導体と、該線状導体を含む解析空間のモデル化のための格子の長さdとが、d/2<r<dの関係を有する有限差分時間領域法を用いた電磁界解析を行う際に、前記線状導体の中心を直交する2本のラインが通るように配置し、該2本のラインの両側の4つの格子を前記線状導体に接するように配置して、前記線状導体を直方導体で近似すると共に、前記4つの格子とその外側に隣接する格子との間に少なくとも1本の格子を構成するラインを挿入して前記線状導体を含む解析空間をモデル化したことを特徴とする電磁界解析方法。
IPC (2)：
FI (2)：
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