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J-GLOBAL ID：200903088232111747

アンケート評価方法及びシステム

Inventor： 後藤 久典 ,  蟻生 俊夫
Applicant, Patent owner： 財団法人電力中央研究所
Agent (2)： 宇都宮 正明 ,  渡部 温
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006212184
Publication number (International publication number)：2008040670
Application date： Aug. 03, 2006
Publication date： Feb. 21, 2008
Summary：

【課題】複数の質問項目について評価及び重要度を回答するアンケート調査の結果を適切に分析することによって、アンケート調査の結果を複数の質問項目について総合的に評価するための正確な総合評価指標を求めることのできるアンケート評価方法を提供する。【解決手段】このアンケート評価方法は、アンケートの質問項目を特定の基準に基づく複数の上位カテゴリーに割り当てるステップと、各上位カテゴリーに割り当てられた質問項目が複数ある場合に、因子分析に基づいてそれらの質問項目を下位カテゴリーに集約するステップと、各質問項目について、評価の基準値と評価のアンケート回答値との差と、重要度の基準値と重要度のアンケート回答値との差とに基づいて得点を求めるステップと、複数の質問項目についての得点を下位カテゴリー及び上位カテゴリー毎に重み付けして加算することにより総合評価指標を求めるステップとを具備する。【選択図】図4

Claim (excerpt)：

複数の質問項目について評価及び重要度を回答するアンケート調査の結果を総合的に評価するアンケート評価方法であって、 アンケートの質問項目を特定の基準に基づく複数の上位カテゴリーに割り当てるステップ(a)と、 各上位カテゴリーに割り当てられた質問項目が複数ある場合に、因子分析に基づいてそれらの質問項目を少なくとも1つの下位カテゴリーに集約するステップ(b)と、 各質問項目について、評価の基準値と評価のアンケート回答値との差と、重要度の基準値と重要度のアンケート回答値との差とに基づいて得点を求めるステップ(c)と、 複数の質問項目についての得点を下位カテゴリー及び上位カテゴリー毎に重み付けして加算することにより、アンケート調査の結果を複数の質問項目について総合的に評価するための総合評価指標を求めるステップ(d)と、 を具備するアンケート評価方法。

IPC (1)：

G06Q 50/00

FI (1)：

G06F17/60 150

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• アンケート処理装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-037297   Applicant：松下電器産業株式会社

Cited by examiner (2)

• アンケート処理装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-037297   Applicant：松下電器産業株式会社
• 分析方法及び装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-320569   Applicant：東京電力株式会社