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J-GLOBAL ID：200903088328248778
ステレオ対応探索装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
高野 明近 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993247172
Publication number (International publication number)：1995103734
Application date： Oct. 01, 1993
Publication date： Apr. 18, 1995
Summary：
【要約】【目的】 階層画像を用いて対応点を探索することにより、高精度かつ高速に3次元データを測定する。【構成】 階層画像作成器2は、入力された画像より階層画像を作成する。画像分割器3は、階層画像作成器2により作成された主画像の階層画像を小ブロックに分割する。初期探索位置計算器4は、上位階層により計算された視差から初期探索位置を計算する。対応点計算器5は、主画像の小ブロックに対する副画像での最も一致する位置を計算する。視差計算器6は、対応点計算器5により計算された対応点と小ブロックの位置から視差を計算する。このように、複数の撮像手段により撮影された画像から、低解像度画像による視差計算で概ねの視差を計算し、次第に高解像度画像を用いるに従って正確な視差を計算することが可能となる。
Claim (excerpt)：
複数の撮像手段と、該複数の撮像手段により撮像された複数の原画像より階層的に、より低解像度の画像である階層画像を作成する階層画像作成手段と、前記撮像手段により撮像された画像の一方を主画像とし、前記階層画像作成手段により作成された主画像の階層画像を小ブロックに分割する画像分割手段と、該画像分割手段により分割された主画像の階層画像の各小ブロックが他の画像の同じ解像度の階層画像のどの部分に対応するかを求める対応点計算手段と、該対応点計算手段により求められた対応部分の画像の位置と主画像の小ブロックの位置から視差を計算する視差計算手段と、該視差計算手段により求められた視差を1段階下位の階層に伝播し、前記対応点計算手段における初期探索位置を計算する初期探索位置計算手段とから成り、前記各手段を、最上位の階層画像から原画像までの解像度の画像に繰り返し実行することにより原画像における視差を計算することを特徴とするステレオ対応探索装置。
IPC (2)：
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