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J-GLOBAL ID：200903088339716005

放射線解析装置

Inventor： ヘンドリク ヨハネス ヤン ボルク ,  ヘオルヘス チャールズ ペトロネラ ジールチェンズ
Applicant, Patent owner： フィリップス エレクトロニクス ネムローゼ フェンノートシャップ
Agent (1)： 杉村 暁秀 (外5名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994050421
Publication number (International publication number)：1994300854
Application date： Mar. 22, 1994
Publication date： Oct. 28, 1994
Summary：

【要約】【目的】 アナログ-ディジタル変換器の微分非線形性によるエラーを補正したパルス波高分布を生成する放射線解析装置を提供することを目的とする。【構成】 カウント値に補正因数を乗算することにより、補正されたパルス波高スペクトルを構成する補正カウント値を得る。補正因数は、既知の理想的パルス波高スペクトルに対応する既知の制御・測定検出器信号をアナログ-ディジタル変換器に供給することによって得られる。制御・測定検出器信号の供給に基づいて実際に形成されたパルス波高スペクトルと理想的パルス波高スペクトルとの比較により補正因数を求め、メモリ手段に記憶する。測定から得られた信号のカウント値と補正因数を乗算手段に供給し、補正済カウント値を得る。

Claim (excerpt)：

アナログ検出器信号を発生する放射線検出器、該アナログ検出器信号をディジタル信号に変換するアナログ-ディジタル変換器、および該放射線のパルス波高分布を表すカウント値を記憶するメモリ手段、を具える放射線解析装置において、該ディジタル信号に基づき、且つアナログ-ディジタル変換器の変換エラーを表す補正信号に基づいて、上記のカウント値を計算する補正手段を具えることを特徴とする放射線解析装置。

IPC (5)：

G01T 1/36 ,  G01N 23/223 ,  G01R 19/175 ,  G01T 1/17 ,  H03M 1/10

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭63-289476
  
• 特開平1-097892
  
• A/D変換器補正装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-178095   Applicant：松下電器産業株式会社