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J-GLOBAL ID:200903088340568354
透明薄膜の厚さ及び音速の同時測定法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
田北 嵩晴
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1991146533
Publication number (International publication number):1993346309
Application date: May. 23, 1991
Publication date: Dec. 27, 1993
Summary:
【要約】【目的】 不透明基板上の透明薄膜の厚さ及び音速の非接触、非破壊測定方法を提供する。【構成】 超短パルスコヒ-レント光を用いて、ポンプ・プロ-ブ光学系を構成し、ポンプ・プロ-ブ光の遅延時間を変化させて不透明基板上の透明薄膜に照射し、透明薄膜内の応力パルスからと、透明薄膜と基板との境界面からと、薄膜上面からとの反射プロ-ブ光の干渉により生じる反射率の時間変化のうなり振動の周期τBを測定し、該周期τB と、既知の透明薄膜の屈折率nと、該プロ-ブ光線の透明薄膜中の入射角θと該プロ-ブ光線の波長λから、透明薄膜中の音速vを算出し、さらに応力パルスの該透明薄膜中の伝播時間τを測定し、該伝播時間τと、前記音速vより透明薄膜の厚さdを算出する。
Claim (excerpt):
超短パルスコヒーレント光源を用いて、ポンプ・プローブ光学系を構成し、ポンプ・プローブ光の遅延時間を変化させて不透明基板上の透明薄膜に照射し、透明薄膜内の応力パルスからと、透明薄膜と基板の境界面からと、薄膜上面からとの反射ブロープ光の干渉により生じる反射率の時間変化のうなり振動の周期τB を測定し、該周期τB と、既知の透明薄膜の屈折率nと、該ブロープ光線の透明薄膜中の入射角θと、該ブロープ光線の波長λから、透明薄膜中の音速vを算出し、さらに応力パルスの該透明薄膜中の伝播時間τを測定し、該伝播時間τと、前記音速vより透明薄膜の厚さdを算出することを特徴とする、不透明基板上の透明薄膜の厚さ及び音速の同時測定法。
IPC (3):
G01B 11/06
, G01N 21/47
, G01N 29/18
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