Pat
J-GLOBAL ID：200903088387396934
表面光沢検査方法および装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
西教 圭一郎 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999298221
Publication number (International publication number)：2001116693
Application date： Oct. 20, 1999
Publication date： Apr. 27, 2001
Summary：
【要約】【課題】 被検査物の表面光沢を表面疵の影響などを受けずに精度良く検査する。【解決手段】 被検査物であるステンレス鋼帯11の表面に沿って、複数の光沢度センサ13を配置する。PC15の判定ロジックは、各光沢度センサ13からの光沢度に対応する信号値が、予め設定される基準値未満のときには、ステンレス鋼帯11が存在しない板無し部に対応するものとして除外する。隣接する光沢度センサ13からの信号値の差が、予め設定される基準値を越えているときには、少なくとも一方の光沢度センサ13が疵がある部分に対応しているものとして、光沢度算出のためのデータから除外する。残った光沢度センサ13からの信号値の加算平均として光沢度を算出するので、疵などの影響を受けずに、適切な光沢度を算出することができる。このような疵の影響を受けない光沢度は、表面検査機システム12で、疵を判定する際に用いることができる。
Claim (excerpt)：
被検査物の表面に沿って、複数の光沢度センサを相互間に間隔をあけて配置し、各光沢度センサからは、被検査物の表面に光を照射して反射強度から光沢度に対応する信号を導出させ、該複数の光沢度センサ全てからの信号のうち、対応する光沢度が予め定める下限値未満となる信号値を除外し、隣接する光沢度センサからの信号値の差が予め定められる基準値以下となる光沢度センサを選択し、選択された光沢度センサからの信号値に対応する光沢度の平均値を、被検査物の光沢度として算出することを特徴とする表面光沢検査方法。
IPC (2)：
FI (2)：
G01N 21/57
, G01N 21/892 B
2G051AA37
, 2G051AB02
, 2G051AB20
, 2G051CB01
, 2G059AA02
, 2G059BB08
, 2G059CC20
, 2G059EE02
, 2G059GG01
, 2G059MM02
, 2G059MM03
, 2G059MM05
, 2G059MM09
