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J-GLOBAL ID：200903088390389590

画像処理装置、および画像処理方法

Inventor： 石井 育規 ,  今川 和幸 ,  福宮 英二 ,  岩佐 克博
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 平野 一幸
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004351649
Publication number (International publication number)：2006163614
Application date： Dec. 03, 2004
Publication date： Jun. 22, 2006
Summary：

【課題】 検出識別精度を維持し、処理量の少ない対象物体検出を行える画像処理装置を提供する。 【解決手段】 対象物体の画像ベクトルである対象物体参照ベクトルと非対象物体の画像ベクトルである非対象物体参照ベクトルを含む参照ベクトルと参照ベクトルの重み係数との組み合わせである複数の参照パラメータ12を有する参照用データベース11と、入力画像2から部分画像を切り出す部分画像切り出し部3と、切り出された部分画像の特徴量ベクトルを算出する特徴量ベクトル算出部4と、特徴量ベクトルと参照パラメータを用いて、部分画像から対象物体を検出する特徴量ベクトル評価部5を備える。特徴量ベクトル評価部は、演算結果に基づいて、部分画像の対象物体の包含/非包含を判定する画像識別部6を有し、画像識別部が、対象物体を非包含と判定した時点で検出処理を終了する。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

入力画像から対象物体を検出する画像処理装置であって、 前記対象物体の画像ベクトルである対象物体参照ベクトルと非対象物体の画像ベクトルである非対象物体参照ベクトルを含む参照ベクトルと前記参照ベクトルの重み係数との組み合わせである複数の参照パラメータを有する参照用データベースと、 前記入力画像から部分画像を切り出す部分画像切り出し部と、 前記画像切り出し部が切り出した部分画像の特徴量ベクトルを算出する特徴量ベクトル算出部と、 前記特徴量ベクトルと前記参照パラメータを用いて、前記部分画像から対象物体を検出する検出処理を行う特徴量ベクトル評価部を備え、 前記特徴量ベクトル評価部は、前記特徴量ベクトルと前記参照パラメータを用いて演算した演算結果に基づいて、前記部分画像の前記対象物体の包含/非包含を判定する画像識別部を有し、 前記画像識別部が、前記対象物体を非包含と判定した時点で前記検出処理を終了する画像処理装置。

IPC (1)：

G06T 7/00

FI (1)：

G06T7/00 300F

F-Term (7)：

5L096FA06 ,  5L096FA26 ,  5L096GA55 ,  5L096HA08 ,  5L096JA03 ,  5L096JA11 ,  5L096KA04

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 米国特許出願公開第2003/0108244号公報
  
• 米国特許出願公開第2002/0102024号公報