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J-GLOBAL ID：200903088422619976

被測定眼寸法測定装置

Inventor：
畑中 英樹

About 畑中 英樹


Applicant, Patent owner：
株式会社トプコン

About 株式会社トプコン


Agent (1)： 西脇 民雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994048523
Publication number (International publication number)：1995255674
Application date： Mar. 18, 1994
Publication date： Oct. 09, 1995
Summary：
【要約】【目的】 被測定眼の屈折力、角膜曲率半径、および眼内寸法を一度の測定で短時間に精度よく容易に測定することができる被測定眼寸法測定装置を提供する。【構成】 被測定眼寸法測定部(制御回路157、演算部158)で被検眼103の寸法を測定し、また同時に、屈折力補正部(合焦レンズ137、合焦レンズ移動部200)で被検眼103の屈折力補正を行い、さらに屈折力測定部(制御回路157、演算部158)で被検眼103の屈折力を補正する。
Claim (excerpt)：
光源からの光を眼内対象物と参照面とに向けて射出し、該眼内対象物と該参照面とにより反射された各反射光を合成して干渉させる干渉光学系と、上記干渉光を受光し干渉信号を出力する受光部と、該受光部からの信号に基づいて被測定眼の寸法を測定する被測定眼寸法測定部と、前記干渉信号の強度変化に基づいて、前記眼内対象物への光束の集光状態を変化させて被測定眼の屈折力補正を行う屈折力補正部と、該屈折力補正部によって補正された際の前記眼内対象物への光束の集光状態に基づいて被測定眼の屈折力を測定する屈折力測定部と、から構成されていることを特徴とする被測定眼寸法測定装置。
IPC (2)：
A61B 3/11 ,  A61B 3/10
FI (3)：
A61B 3/10 A ,  A61B 3/10 H ,  A61B 3/10 M
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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