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J-GLOBAL ID：200903088449354052

脆性材料のクラック進行速度を測定する方法

Inventor： 宇田川 浩二 ,  広崎 悟 ,  和田 昇
Applicant, Patent owner： 富士ゼロックス株式会社
Agent (1)： 中村 智廣 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993206486
Publication number (International publication number)：1995055741
Application date： Aug. 20, 1993
Publication date： Mar. 03, 1995
Summary：

【要約】【目的】 測定精度が良く、有効測定範囲の広い脆性材料のクラック進行速度を測定する方法を提供することにある。【構成】 脆性材料中に生じるクラックの進行速度を測定する方法において、脆性材料表面に上記クラックの進行方向と交差する方向に沿って導電性の薄膜からなる複数の細線状電極を形成し、これら複数の細線状電極を定電圧源に並列に接続し、クラックの進行による細線状電極の切断に伴う電流変化量を測定する脆性材料のクラック進行速度を測定する方法である。

Claim (excerpt)：

脆性材料中に生じるクラックの進行速度を測定する方法において、脆性材料表面に上記クラックの進行方向と交差する方向に沿って導電性の薄膜からなる複数の細線状電極を形成し、これら複数の細線状電極を定電圧源に並列に接続し、クラックの進行による細線状電極の切断に伴う電流変化量を測定することを特徴とする脆性材料のクラック進行速度を測定する方法。