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J-GLOBAL ID：200903088579767561

視野測定装置

Inventor： 三橋 俊文
Applicant, Patent owner： 株式会社トプコン
Agent (1)： 和泉 雄一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996202979
Publication number (International publication number)：1998024018
Application date： Jul. 14, 1996
Publication date： Jan. 27, 1998
Summary：

【要約】[目的] 本発明は視野測定装置に係わり、特に、半球ドーム面として形成された視野測定面に対して、指標イメージを投射することにより、全視野に渡って多種の眼科検査を実行することのできる視野測定装置を提供することを目的とする。[構成] 本発明は固視標が被検眼の視線を固定し、視野視標投影手段が、半球ドーム面として形成された視野測定面に対して、視標スポット光を所望の位置に投影する様になっており、視野視標投影手段により、視野測定面の所望の位置に、視力検査用視標パターン像や、運動閾値測定用パターン像、色知覚測定用パターン像等を投影することができる。

Claim (excerpt)：

被検眼の視線を固定するための固視標と、半球ドーム面として形成された視野測定面に対して、視標スポット光を所望の位置に投影するための視野視標投影手段とからなる視野測定装置において、該視野視標投影手段により、前記視野測定面の所望の位置に、視力検査用視標パターン像を投影することを特徴とする視野測定装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 視野障害高感度検出装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-046094   Applicant：株式会社ニデック
• 特開昭51-000796