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J-GLOBAL ID：200903088590009652
光検出器
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小川 勝男 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000117189
Publication number (International publication number)：2001060699
Application date： Apr. 13, 2000
Publication date： Mar. 06, 2001
Summary：
【要約】【課題】 本願発明の課題は、個々の量子を検出することができる改良されたシンプルな光検出器を供することである。【解決手段】 本願発明の光検出器は、対応する電子正孔対を作成するために個々の入射光子を吸収する光吸収領域(1)を有する。領域1に電極(3)によって加えられるバイアス(Vb)は、ソースドレインパス(6)を有する単一電子トランジスタの形の電位計(4)に個々の電子がゲート電界を加えるようにして反対の荷電電子及び正孔を分離し、ソースドレインパス(6)に沿うキャリヤ電荷の輸送はクーロン遮断で制限される。個々の光誘導電子の電荷(e)は、単一電子トランジスタを通る電荷キャリヤ輸送を変調し、その結果の電流は入射光子を個々に検出するために電圧出力(Vout)を生成する増幅器(A1)によって検出される。
Claim (excerpt)：
入射光子を吸収し、当該入射光子に応答した電荷キャリヤを生じる光吸収領域と、個々の電荷キャリヤに応答し、対応する電気出力を提供する電位計と、を含んでなることを特徴とする光検出器。
IPC (3)：
H01L 31/0248
, G01J 1/02
, H01L 27/146
H01L 31/08 H
, G01J 1/02 B
, H01L 27/14 A
Cited by examiner (2)
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光検出器
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平6-204224
Applicant：ソニー株式会社
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光および荷電粒子検出装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平6-290932
Applicant：株式会社日立製作所
Article cited by the Patent：
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