非破壊検査方法およびその装置

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：作田康夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001033087
Publication number (International publication number)：2002236100
Application date： Feb. 09, 2001
Publication date： Aug. 23, 2002
Summary：

【要約】【課題】浸透探傷検査において、コードレスの撮像機器を用いることで、検査対象物や環境に左右されない可搬性に優れた画像入力を行い、欠陥検出処理とそのデータをファイリングする非破壊検査方法および装置を提供する。【解決手段】デジタルカメラに照明装置を組み合わせたコードレスで、可搬性の優れた撮像機器を用いることによって、検査対象の規模や設置場所などの環境に影響されずに画像入力を行う。その検査対象を撮像する際、あらかじめ大きさが既知の矩形、円形、直線、直線の組合せ(+字状、L字状、クロス+字状)形状のマークを同画面内に配置して同時取り込みすることで、画像内の等間隔に配置されたマークにて、倍率、位置、傾きなどの補正処理を行う。検査対象に応じて連続的に入力をし、合成して全体の検査マップを作成する。コンピュータで欠陥検出処理を行い、その処理結果を、検査画像と共にファイリング記憶する。検査対象部の情報や検査結果を各特徴量として、検索できる検査管理体制ができる。

Claim (excerpt)：

対象物の欠陥を非破壊で検査する非破壊検査方法であって、検査対象物を撮像して該検査対象物のデジタル画像を得、該デジタル画像を記憶し、該記憶した前記デジタル画像を処理して欠陥候補を含む画像を抽出し、該抽出した欠陥候補を含む画像の中から抽出した画像を該画像に付帯する情報と共に記憶することを特徴とする非破壊検査方法。

IPC (2)：

G01N 21/91 , G01J 3/50

FI (2)：

G01N 21/91 A , G01J 3/50

F-Term (11)：

2G020DA02 , 2G020DA03 , 2G020DA13 , 2G020DA34 , 2G020DA66 , 2G051GB01 , 2G051GB04 , 2G051GC04 , 2G051GC17 , 2G051GD02 , 2G051GD03

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

材料表面欠陥測定方法および測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-187673 Applicant：株式会社東芝
非破壊検査用欠陥記録・再生方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-265669 Applicant：株式会社東芝
デジタル信号伝送方式
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-174175 Applicant：大同特殊鋼株式会社

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