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J-GLOBAL ID：200903088677466618

画像認識方法およびその装置

Inventor： ▲濱▼田 長生 ,  吉村 一成 ,  安田 朋広 ,  佐久間 ▲祐▼治
Applicant, Patent owner： 松下電工株式会社
Agent (1)： 石田 長七 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994262953
Publication number (International publication number)：1996123963
Application date： Oct. 26, 1994
Publication date： May. 17, 1996
Summary：

【要約】【目的】一般化ハフ変換により対象物の位置および角度を認識する画像処理において、記憶空間を小さくしかつ高速な処理を可能としながらも、位置および角度を高精度に検出する。【構成】濃淡画像について対象物の位置および角度を保存できる方法で圧縮し(202)、この圧縮画像について一般化ハフ変換の適用によって対象物の位置および角度を概略求める(203〜214)。元の濃淡画像に対して一般化ハフ変換を適用して対象物の位置および角度を求める範囲を、圧縮画像から求めた位置および角度により制限し(220)、制限範囲内でのみ対象物の位置および角度を高精度に求める2次処理を行う(221)。

Claim (excerpt)：

認識すべき対象物の基準物に対する相対的な位置および角度を求めるに際して、基準物の濃淡画像から抽出した特徴部分の画素群の各画素の極座標と各画素の近傍の濃度勾配を画像の基準方向に対する角度で表した方向値とを対応付けたテンプレートテーブルを設けておき、対象物の濃淡画像から抽出した特徴部分の画素群の各画素の座標および方向値を求めた後、対象物に対する基準方向を所定角度ずつ変化させて得た方向値をテンプレートテーブルに照合することにより対象物から抽出した各画素の極座標の候補を求め、次に設定した角度と極座標の候補とに一般化ハフ変換を適用して得られる座標の発生度数を各基準方向ごとに求め、度数が極大になる座標および基準方向の角度をそれぞれ対象物の位置および角度とする画像認識方法において、基準物に対する対象物の位置および角度をあらかじめ低精度で抽出する前処理の後、求めた位置および対象物の大きさに基づく制限された位置範囲内、かつ求めた角度を含む制限された角度範囲内で上記基準方向を変化させて対象物の位置および角度を求めることを特徴とする画像認識方法。

IPC (2)：

G06T 7/00 ,  G06T 7/60

FI (3)：

G06F 15/70 455 A ,  G06F 15/70 330 F ,  G06F 15/70 350 B

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平4-024773
  
• 特開平4-182881
  
• 特開昭62-077689