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J-GLOBAL ID:200903088698119209

米品質評価装置の表示システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 森本 義弘
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997172668
Publication number (International publication number):1999023475
Application date: Jun. 30, 1997
Publication date: Jan. 29, 1999
Summary:
【要約】【課題】 経験の少ない人でも、米の特徴を容易に認識して評価することができる米品質評価装置の表示システムを提供する。【解決手段】 サンプル米の品質を品質測定手段により測定し、この品質測定手段の複数の測定結果を数値で表示するだけでなく測定結果を関連付けてレーダーチャートなどにより図形表示する。これにより、数値で表示するだけでは容易に判別するできないサンプル米の品質の特徴を顕著化して表示でき、その測定結果のデータが意味するサンプル米の品質の特徴を容易に認識可能となる。
Claim (excerpt):
サンプル米の品質を測定する品質測定手段と、この品質測定手段の複数の測定結果を数値で表示するだけでなく測定結果を関連付けて図形表示可能とした表示手段とを備えた米品質評価装置の表示システム。
IPC (2):
G01N 21/85 ,  G01N 33/10
FI (2):
G01N 21/85 A ,  G01N 33/10

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