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J-GLOBAL ID：200903088703862110

距離検出装置

Inventor：
照井 武和

About 照井 武和


Applicant, Patent owner：
株式会社デンソー

About 株式会社デンソー


Agent (3)： 伊藤 洋二 ,  三浦 高広 ,  水野 史博
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004043179
Publication number (International publication number)：2005233773
Application date： Feb. 19, 2004
Publication date： Sep. 02, 2005
Summary：
【課題】 投射窓部や入射窓部の破損を検知できる機能を有する距離検出装置を提供する。【解決手段】 投射窓部1dや入射窓部1eの端面から割れ検出用の光を入射し、反対側の端面から出射した光を受光することで、投射窓部1dや入射窓部1eの割れ判定を行う。すなわち、投射窓部1dや入射窓部1eが割れた場合には、割れていない場合と比べて、受光素子12a、12bで受け取られる光の強度が小さくなることから、その光の強度に基づいて割れ判定を行うことができる。【選択図】 図4
Claim (excerpt)：
ケース(1、1a、1b)と、 前記ケース内に配置され、探査用電磁波を出射する電磁波発生部(2)と、 前記ケースに形成され、前記電磁波発生部からの前記探査用電磁波を通過させる電磁波通過面を有する透波性材料で構成された投射窓部(1d)と、 前記ケース内に配置され、前記探査用電磁波の反射波を受け取る電磁波受取部(6)と、 前記ケースに形成され、前記電磁波受取部が受け取る前記反射波を通過させる電磁波通過面を有する透波性材料で構成された入射窓部(1e)とを備え、 前記電磁波発生部が照射した前記探査用電磁波を前記投射窓部を通じて前記ケースの外部に向けて出射したのち、前記ケースの外部で反射してきた前記探査用電磁波を前記電磁波受取部で受け取り、それに基づいて前記探査用電磁波が反射させられた障害物までの距離を検出する距離検出装置であって、 前記投射窓部および前記入射窓部の少なくとも一方の端面近傍に配置され、該端面から光を入射する割れ検出用光照射部(11a、11b)と、 前記割れ検出用光照射部が備えられた前記投射窓部および前記入射窓部の少なくとも一方のうち、前記端面とは反対側の端面近傍に配置され、前記端面から出射した光を受光する割れ検出用光受光部(12a、12b)と、 前記割れ検出用受光部での受光状態に応じて、前記投射窓部もしくは前記入射窓部の少なくとも一方の割れを検出する割れ判定部(13)とを備えていることを特徴とする距離検出装置。
IPC (5)：
G01S17/93 ,  G01B11/00 ,  G01C3/06 ,  G01S7/48 ,  G01S13/93
FI (5)：
G01S17/88 A ,  G01B11/00 B ,  G01C3/06 Z ,  G01S7/48 A ,  G01S13/93 Z
F-Term (44)：
2F065CC11 ,  2F065DD13 ,  2F065DD15 ,  2F065FF12 ,  2F065FF32 ,  2F065GG04 ,  2F065JJ01 ,  2F065JJ09 ,  2F065LL10 ,  2F065LL12 ,  2F065LL15 ,  2F065MM16 ,  2F065PP22 ,  2F065UU07 ,  2F112AD01 ,  2F112BA15 ,  2F112CA05 ,  2F112DA08 ,  2F112DA15 ,  2F112DA25 ,  2F112DA32 ,  2F112EA03 ,  2F112GA05 ,  5J070AB01 ,  5J070AC02 ,  5J070AD02 ,  5J070AE01 ,  5J070AF03 ,  5J070AH35 ,  5J070BF16 ,  5J084AA05 ,  5J084AB01 ,  5J084AC02 ,  5J084AD01 ,  5J084BA03 ,  5J084BA48 ,  5J084BB26 ,  5J084BB40 ,  5J084CA03 ,  5J084DA01 ,  5J084DA05 ,  5J084EA01 ,  5J084EA20 ,  5J084FA01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
  • 反射測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-215980   Applicant：株式会社デンソー
Cited by examiner (4)
  • 距離測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-342956   Applicant：株式会社ニコン
  • 特開昭64-021342
  • 透明体の破損検出装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-237272   Applicant：日本発条株式会社
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