Pat
J-GLOBAL ID:200903088730562667
膜の歪測定器とそれを使用した歪測定方法
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (1):
長瀬 成城
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000295911
Publication number (International publication number):2002107108
Application date: Sep. 28, 2000
Publication date: Apr. 10, 2002
Summary:
【要約】【課題】膜構造建築物等における膜の歪を精確に測定できる膜の歪測定器を提供する。【解決手段】圧電ポリマー1と、この圧電ポリマーに設けた電極2と、この電極を介して得られた圧電ポリマーからの出力電圧をもとに、所定の式から膜の歪を算出する演算手段3とを備えていることを特徴とする膜の歪測定器。
Claim (excerpt):
圧電ポリマーと、この圧電ポリマーに設けた電極と、この電極を介して得られた圧電ポリマーからの出力電圧をもとに以下の〔数1〕または〔数2〕のいずれか一方の式から膜の歪を算出する演算手段とを備えていることを特徴とする膜の歪測定器。【数1】【数2】
IPC (2):
FI (3):
G01B 7/16
, G01L 1/16 Z
, G01L 1/16 A
F-Term (9):
2F063AA25
, 2F063BA14
, 2F063BA30
, 2F063BC09
, 2F063DD04
, 2F063EC03
, 2F063EC07
, 2F063EC24
, 2F063EC25
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (6)
Show all
Cited by examiner (12)
-
特開昭61-205805
-
特開昭61-205805
-
特開昭57-128803
-
特開昭57-128803
-
特開昭60-263690
-
特開昭60-263690
-
特開昭61-274201
-
特開昭61-274201
-
特開平4-369403
-
特開平4-369403
-
特公昭45-005194
-
特公昭45-005194
Show all
Return to Previous Page