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J-GLOBAL ID：200903088736834472
システム顕微鏡
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992055362
Publication number (International publication number)：1993257066
Application date： Mar. 13, 1992
Publication date： Oct. 08, 1993
Summary：
【要約】【目的】本発明は、透過微分干渉観察あるいは透過偏光観察と各種落射観察との切換えを迅速化することを目的とする。【構成】透過微分干渉観察時あるいは透過偏光観察時に試料10を通過した後の直線偏光を干渉させるアナライザー51とこのアナライザー51で干渉した光を無偏光にするデポラライザー52とを、単体からなるアナライザーキューブ47に設けられた貫通路56上に保持し、落射観察用のキューブ48を観察光路に対して挿脱させる担持体46に、前記アナライザーキューブ47を取付けて、前記落射観察用のキューブ48に連動して前記アナライザーキューブ47を前記観察光路に挿脱するものとした。
Claim (excerpt)：
透過微分干渉観察あるいは透過偏光観察と落射観察とを切換えて複合観察が行なえるシステム顕微鏡において、透過微分干渉観察時あるいは透過偏光観察時に試料を通過した後の直線偏光を干渉させるアナライザーとこのアナライザーで干渉した光を無偏光にするデポラライザーとを、単体からなるアナライザーキューブに設けられた貫通路上に保持し、落射照明観察に用いられる落射観察用のキューブを観察光路に対して挿脱させる担持体に、前記アナライザーキューブを取付けて、前記落射観察用のキューブに連動して前記アナライザーキューブを前記観察光路に挿脱することを特徴とするシステム顕微鏡。
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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