Pat
J-GLOBAL ID:200903088748593306

円筒状表面を光学的に検査するための装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 安達 光雄 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993139530
Publication number (International publication number):1994066728
Application date: May. 17, 1993
Publication date: Mar. 11, 1994
Summary:
【要約】 (修正有)【目的】 シガレットの円筒状表面のような円筒状表面を光学的に検査する装置を提供する。【構成】 完成されたシガレット9の検査は圧延ドラム1上進行するシガレット9がビジョン装置30に接続された好ましくは二つのカメラ5,14を備えた単独の固定式圧延ブロック12を通過することにより達成される。第1カメラ5はシガレットをこの圧延ブロックの前で観察し、次にシガレット9はおよそ180°圧延され、さらに第2カメラ14がシガレット9のそれまで隠されていた部分を観察する。シガレット9は、観察されたシガレット9を一組の所定特性と比較することに基づいて容認または排除される。
Claim (excerpt):
円筒状物体(9)の円筒状表面を実質的に全体に光学的に検査する装置であって、前記物体の前記表面の第1側面が露出されるように前記物体(9)を支持するための第1支持体(110)(1)、前記第1側面の第1画像を形成するための第1画像形成器(120a)(5)、前記物体(9)の前記表面の第2側面を露出させるための手段(130,140,150)(12)を具備し、前記第1側面と第2側面は共同して前記表面の全体を含み、前記第2側面の第2画像を形成するための第2画像形成器(120b)(14)を具備し、前記第1側面と第2側面は共同して前記物体の全円筒状表面を含むことを特徴とする円筒状物体(9)の円筒状表面を実質的に全体に光学的に検査する装置。
IPC (3):
G01N 21/88 ,  G01B 11/30 ,  G01N 21/89
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
  • 特開昭60-016583
  • 特開昭60-016583
  • 特開昭51-149085
Show all

Return to Previous Page