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J-GLOBAL ID：200903088770379687

断層画像処理方法、装置およびプログラムならびにこれを用いた光断層画像化システム

Inventor：
赤堀 貞登

About 赤堀 貞登


Applicant, Patent owner：
富士フイルム株式会社

About 富士フイルム株式会社


Agent (3)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛 ,  本澤 大樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006311284
Publication number (International publication number)：2008128707
Application date： Nov. 17, 2006
Publication date： Jun. 05, 2008
Summary：
【課題】本発明は、複数の波長帯域を含む光を用いて良好な画質の光断層画像を生成する。【解決手段】光源ユニット10から複数の波長帯域λ1、λ2を含む光束La、Lbが射出され光分割手段3に入射され各光束La、Lbは測定光L1a、L1bと参照光L2a、L2bとに光分割される。測定光L1a、L1bは測定対象Sに照射され測定対象Sの各深さ位置zにおいて反射した反射光L3が合波手段4に入射され参照光L2a、L2bと合波される。干渉光検出手段40において、反射光L3aと参照光L2aとの干渉光L4aおよび反射光L3bと参照光L2bとの干渉光L4bが干渉信号ISa、ISbとして検出される。各干渉信号ISa、ISbからそれぞれ中間断層情報ra(z)、rb(z)が取得され、中間断層情報ra(z)、rb(z)から断層情報r(z)が生成され、断層画像が生成される。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
互いに離散した波長帯域内においてそれぞれ連続したスペクトルを有する複数の光束を射出し、 射出した前記複数の光束を測定光と参照光とにそれぞれ分割し、 分割した複数の前記測定光が測定対象の各深さ位置において反射したときの反射光と前記参照光とを前記各光束毎にそれぞれ合波し、 合波した前記反射光と前記参照光との干渉光を干渉信号として前記各光束毎にそれぞれ検出し、 検出した複数の前記干渉信号をそれぞれ周波数解析することにより、前記各干渉信号毎にそれぞれ前記測定対象の各深さ位置からの断層情報を中間断層情報として取得し、 取得した複数の前記中間断層情報を用いて前記測定対象の断層情報を取得し、 生成した前記断層情報を用いて前記測定対象の断層画像を生成する ことを特徴とする断層画像処理方法。
IPC (3)：
G01N 21/17 ,  A61B 10/00 ,  A61B 1/00
FI (3)：
G01N21/17 625 ,  A61B10/00 E ,  A61B1/00 300D
F-Term (33)：
2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE11 ,  2G059FF01 ,  2G059GG01 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK04 ,  2G059LL02 ,  2G059MM01 ,  2G059NN01 ,  4C061AA00 ,  4C061BB05 ,  4C061CC07 ,  4C061DD00 ,  4C061FF47 ,  4C061HH51 ,  4C061LL01 ,  4C061NN01 ,  4C061NN05 ,  4C061PP11 ,  4C061QQ01 ,  4C061SS21 ,  4C061WW04 ,  4C061WW11
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2) Cited by examiner (1)
  • 光断層映像装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-352458   Applicant：フジノン株式会社

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