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J-GLOBAL ID：200903088786941954

測定データ補正法

Inventor： 大土 哲郎 ,  筒井 博司
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 小鍜治 明 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991312080
Publication number (International publication number)：1993150050
Application date： Nov. 27, 1991
Publication date： Jun. 18, 1993
Summary：

【要約】【目的】 放射線受像装置において、 放射線検出器の経時変化によるデータのばらつきを補正し、画素間のむらを小さくすることを目的とする。【構成】 補正用ファントムを測定し、そのmラインにおけるCdTe半導体検出器のすべての検出素子の平均値LAVmを求める。また、補正測定した結果の全データの平均値AVを求める。これより、各ラインの補正係数Lmを下式によりもとめる。Lm=AV/LAVmこの補正係数LAVmを被写体を測定した各検出素子のmラインの測定データに乗算することにより、検出素子の経時変化を精度よく補正することができる。

Claim (excerpt)：

単一もしくは複数の検出素子からなる放射線検出器を走査して放射線を計測する装置において、補正用ファントムを測定し、その測定データの全データの平均値を各測定ラインにおける前記検出素子の測定データの平均値で除算した値を補正係数とし、前記補正係数を測定結果に乗算することにより、検出器の経時変化による測定データを補正することを特徴とする測定データ補正法。

IPC (3)：

G01T 1/24 ,  G01T 1/164 ,  G01T 7/00