Pat
J-GLOBAL ID:200903088814931226
構造解析システム
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
小林 良平
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006087008
Publication number (International publication number):2007263641
Application date: Mar. 28, 2006
Publication date: Oct. 11, 2007
Summary:
【課題】複数のペプチドに由来する同位体ピーク群が重なり合っていて、しかもMS/MSマススペクトル上で同位体ピーク群を構成するピークの強度が小さい場合であっても、各ペプチドのアミノ酸配列を高い精度で同定する。【解決手段】ペプチド混合物のMS/MS分析で得られた同位体ピーク群をクラス分けする際に、まずプリカーサイオンの元素組成を推定した上で該プリカーサイオンに同位体が1個、2個、...含まれると仮定して(S11)、MS/MS分析により得られるイオンの元素組成を推定し各ピークの強度比を計算する(S13、S14)。この理論計算による強度比と実測により得られたMS/MSマススペクトル上の同位体ピーク群に含まれるピークの強度比とが高い相関を有している場合に(S19でYES)、その同位体ピーク群をそのプリカーサイオンに含まれる同位体数のクラスに分類し(S20)、ピークリストを作成する。【選択図】図3
Claim (excerpt):
質量分析を用いて試料のアミノ酸配列又は塩基配列を同定するための構造解析システムであって、
a)試料のMS分析を実行してMSマススペクトルを取得するとともに、該MSマススペクトルに現れる同位体ピーク群の中から、一部のピークを選択して該ピークに対応したイオンをプリカーサイオンとしてMS/MS分析を実行してMS/MSマススペクトルを取得する質量分析手段と、
b)前記質量分析手段により得られたMS/MSマススペクトルに現れる同位体ピーク群を、各同位体ピーク群に含まれる複数のピークの強度比に基づいてその元となったプリカーサイオンに含まれる同位体数を推定することによりクラス分けし、各クラス毎にピークリストを作成するピークリスト作成手段と、
c)前記ピークリスト作成手段によって作成されたピークリストを基に試料のアミノ酸配列又は塩基配列を同定する配列同定手段と、
を備えることを特徴とする構造解析システム。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (23):
2G041CA01
, 2G041FA12
, 2G041FA13
, 2G041FA21
, 2G041GA03
, 2G041GA06
, 2G041GA08
, 2G041GA09
, 2G041LA05
, 2G041LA07
, 4B029AA07
, 4B029AA23
, 4B029BB20
, 4B029FA15
, 4B063QA13
, 4B063QQ42
, 4B063QQ52
, 4B063QS36
, 4B063QS39
, 4B063QX10
, 4H045AA10
, 4H045AA20
, 4H045FA15
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
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質量分析システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-152693
Applicant:株式会社日立製作所, 株式会社日立ハイテクノロジーズ
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全同位体の正確なイオン質量測定値を用いた未知化合物の化学実験式の決定
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-299945
Applicant:アジレント・テクノロジーズ・インク
Article cited by the Patent:
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