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J-GLOBAL ID:200903088856973875

眼軸長測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 西脇 民雄
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992081981
Publication number (International publication number):1993277075
Application date: Apr. 03, 1992
Publication date: Oct. 26, 1993
Summary:
【要約】【目的】 眼球の複屈折等の影響を受けることのない眼軸長測定装置を提供することにある。【構成】 直線偏光の測定光を射出する光源部120,114と、前記直線偏光と直交する直線偏光成分のみを受光する受光部144と、前記測定光を被検眼眼底に照射させて該眼底で反射される反射光を前記受光部へ導く測定光学系121,150,160とを有し、受光部144の受光信号に基づいて眼軸長を測定する眼軸長測定装置において、前記被検眼による位相ずれを補償する位相補償手段128を被検眼Eの直前に配置した。
Claim (excerpt):
直線偏光の測定光を射出する光源部と、前記直線偏光と直交する直線偏光成分のみを受光する受光部と、前記測定光を被検眼眼底に照射させて該眼底で反射される反射光を前記受光部へ導く測定光学系とを有し、前記受光部の受光信号に基づいて眼軸長を測定する眼軸長測定装置において、位相補償手段を被検眼の直前に配置したことを特徴とする眼軸長測定装置。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
  • 特開平2-004310
  • 特開昭60-249174
  • 特開昭59-008147
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