Pat

J-GLOBAL ID：200903088884399920

電子走査型超音波検査方法及び装置

Inventor： 山越 淳 ,  小池 正浩 ,  武捨 義則 ,  道口 由博
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所 ,  日立建機株式会社
Agent (1)： 秋本 正実
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995132254
Publication number (International publication number)：1996327613
Application date： May. 30, 1995
Publication date： Dec. 13, 1996
Summary：

【要約】【目的】 主ビームによる実像を、グレーティングローブによる虚像との間で誤認識なく容易に判別可能とする。【構成】 アレイ型探触子1からの受信信号を遅延,加算を経て二分し、周波数帯域の異るフィルタ31a,31bに各別に通過させた後、信号処理回路26a,26bに各別に送り波高値及び伝搬時間を各々測定してその結果を探触子1の位置情報と共にメモリに保持し、被検体走査後、メモリ28上に保持されている各波高値及び伝搬時間と探触子位置情報とから二分後の信号によるエコー強度とエコー源位置とを各々求め、各エコー源位置を画像表示装置29に別個に表示する。

Claim (excerpt)：

超音波の送受信を行う複数の振動子を並設したアレイ型探触子を用い個々の振動子の送受信のタイミングを電子的に制御して、超音波ビームを目的とする検査位置に向けて集束又は偏向させ被検体内部又は被検体表面の検査を行う電子走査型超音波検査方法において、上記アレイ型探触子の各振動子で得られた受信信号を所望の遅延時間だけ遅延させた後に加算して得られた信号を2又はそれ以上の異った周波数帯域に分割し、各周波数帯域の信号に基づいて超音波のエコー強度とエコー源位置を求め、各周波数帯域間のエコー源位置のずれの有無を判定することを特徴とする電子走査型超音波検査方法。

IPC (3)：

G01N 29/22 501 ,  G01N 29/24 502 ,  G01N 29/26 503

FI (3)：

G01N 29/22 501 ,  G01N 29/24 502 ,  G01N 29/26 503