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J-GLOBAL ID：200903088966811498

シバ属の系統診断方法と診断に使用するクローン

Inventor： 屋祢下 亮 ,  長澤 れんり ,  大村 武史 ,  萩原 保成 ,  笹隈 哲夫
Applicant, Patent owner： 株式会社ジャパン・ターフグラス ,  財団法人木原記念横浜生命科学振興財団
Agent (1)： 山口 朔生 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992023290
Publication number (International publication number)：1993184394
Application date： Jan. 14, 1992
Publication date： Jul. 27, 1993
Summary：

【要約】【目的】シバ属の種および系統を識別するための系統診断方法を提供する。【構成】ノシバの核ゲノムよりクローニングされたDNA断片をプローブに用いて、RFLP分析によってシバ属の系統診断を行う診断法

Claim (excerpt)：

ノシバ(Zosia japonica)の核ゲノムよりクローニングされたDNA断片をプローブとして用い、制限酵素断片長多型(RFLP)分析して行う、シバ属(Zosia)の系統診断方法

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 特開平2-002400