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J-GLOBAL ID：200903089007580041

表面形状3次元計測方法

Inventor： 藤原 憲明
Applicant, Patent owner： 松下電工株式会社
Agent (1)： 佐藤 成示 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994004596
Publication number (International publication number)：1995208950
Application date： Jan. 20, 1994
Publication date： Aug. 11, 1995
Summary：

【要約】【目的】 形状判断の誤差が生じにくい表面形状3次元計測方法の提供。【構成】 計測対象物体4 面に対してある方向の光源1 から投影した格子2 を別の角度からCCDカメラ7 を用いて観察する変形格子投影法により、格子をそのピッチ方向に少しずつずらした複数の縞画像を得、該縞画像から縞走査法により形状データを求め、又、該縞画像から画像処理により画像データを求め、形状データと画像データとを演算処理することにより計測対象物体4 の表面形状を求めるように構成した。

Claim (excerpt)：

計測対象物体面に対してある方向から投影した格子を別の角度から観察する変形格子投影法により複数の縞画像を得、該縞画像から縞走査法により形状データを求め、又、該縞画像から画像処理により画像データを求め、形状データと画像データとを演算処理することにより計測対象物体の表面形状を求めることを特徴とする表面形状3次元計測方法。

IPC (3)：

G01B 11/24 ,  G01B 11/00 ,  G06T 7/60