Pat
J-GLOBAL ID:200903089016567120
記憶セル、この記録セルを用いたメモリマトリックス及びこれらの製造方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
松山 圭佑 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001042055
Publication number (International publication number):2002246561
Application date: Feb. 19, 2001
Publication date: Aug. 30, 2002
Summary:
【要約】 (修正有)【課題】 カルコゲナイド系材料を用いた記憶素子と、これに情報を入出力するためのダイオード素子からなる記憶セルを低コストで構成し、アドレス速度を向上させる。【解決手段】 記憶セル20は、カルコゲナイド層34を含む記憶素子24と6族半導体材料からなるダイオード素子22とから形成される。ダイオード素子22は第1のアドレスライン側のSe層26とこの上に積層されたCdSn合金層28から構成される。
Claim (excerpt):
相変化材料を用いた記憶素子と、6族半導体からなり、前記記憶素子に情報を入出力するためのダイオード素子と、を有してなる記憶セル。
IPC (3):
H01L 27/10 421
, H01L 27/10 451
, H01L 45/00
FI (3):
H01L 27/10 421
, H01L 27/10 451
, H01L 45/00 A
F-Term (7):
5F083EP00
, 5F083GA01
, 5F083JA36
, 5F083JA51
, 5F083LA12
, 5F083LA16
, 5F083PR33
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