Pat

J-GLOBAL ID：200903089019301164

測距装置および光学機器

Inventor： 原田 修
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 岸田 正行 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998017141
Publication number (International publication number)：1999211468
Application date： Jan. 29, 1998
Publication date： Aug. 06, 1999
Summary：

【要約】【課題】 パッシブ測距方式とアクティブ測距方式とが切り換わっても、十分な測距精度の保証が可能で、演算時間に無駄のない測距装置を提供する。【解決手段】 パッシブ測距方式とアクティブ測距方式とを切換可能とし、一対の受光手段からの受光像のうち少なくとも一方の画像情報をシフトし、一対の画像情報の相関量の変移から一対の画像情報の位相差を検出する相関演算手段を有し、前記相関演算手段により前記アクティブ測距方式と、前記パッシブ測距方式による測距情報を出力する測距装置において、前記相関演算手段の相関量を求めるための画像情報のシフト領域を、前記第アクティブ測距方式と前記パッシブ測距方式で個々に設定可能とした(ステップ209〜212)。

Claim (excerpt)：

測距対象物に投光する投光手段と、上記測距対象物からの反射光を受光し受光量に応じた信号をそれぞれ出力する一対の受光手段と、この一対の受光手段からの受光像のうち少なくとも一方の画像情報をシフトし、一対の画像情報の相関量の変移から一対の画像情報の位相差を検出する相関演算手段を有し、前記投光を行う第1の測距方式と、前記投光を行わない第2の測距方式とを切換可能とし、前記相関演算手段により第1の測距方式による測距情報と前記第2の測距方式による測距情報を出力する測距装置において、前記相関演算手段の相関量を求めるための画像情報のシフト領域は、前記第1の測距方式と、前記第2の測距方式で個々に設定が可能である事を特徴とする測距装置。

IPC (3)：

G01C 3/06 ,  G02B 7/32 ,  G02B 7/34

FI (3)：

G01C 3/06 V ,  G02B 7/11 B ,  G02B 7/11 C