欠陥検査方法およびその装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (4)：古谷栄男 , 松下正 , 眞島宏明 , 鶴本祥文
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004054595
Publication number (International publication number)：2005241573
Application date： Feb. 27, 2004
Publication date： Sep. 08, 2005
Summary：

【課題】コンクリート構造物などの被検査体における内部欠陥を検出するとともに、欠陥部位に関わる情報を定量的に検出することのできる欠陥検査方法およびその装置を提供する。【解決手段】加熱制御手段11からの指令を受けて加熱装置17は、加熱を停止した後の加熱停止期間において被検査体の内部の少なくとも1点で温度上昇が生じるように、被検査体を加熱する。温度計測器19は、被検査体の表面温度を時系列で計測し、計測データを欠陥検査制御装置10のデータ記録手段13に出力する。このとき、計測時間よりも加熱時間を短く設定する。出力を受けたデータ記録手段13が記録した計測データは、欠陥判断手段によって内部欠陥か否かの判定を行い、その結果を、例えば画像データとして出力する。相関処理を行う参照波形の周期を変更することにより、被検査体における内部欠陥を定量的に検出することができる。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

加熱を停止した後の加熱停止期間において被検査体の内部の少なくとも1点で温度上昇が生じるように、当該被検査体の表面に対し計測領域全面にわたり加熱を行い、少なくとも前記加熱を停止した後の加熱停止期間において、前記計測領域の各単位領域について、表面温度の時間変化を計測し、各単位領域における表面温度の時間変化に関する前記各単位領域間の相対的相違に基づいて、当該被検査体における欠陥を見いだす欠陥検査方法であって、計測時間よりも加熱時間を短くしたことを特徴とするもの。

IPC (2)：

G01N25/72 , G01N21/84

FI (2)：

G01N25/72 K , G01N21/84 Z

F-Term (16)：

2G040AA05 , 2G040AB08 , 2G040BA14 , 2G040BA25 , 2G040CA02 , 2G040DA06 , 2G040EA02 , 2G040HA02 , 2G040HA08 , 2G051AA90 , 2G051AB02 , 2G051AC22 , 2G051BA06 , 2G051CA20 , 2G051EA12 , 2G051EA21

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

欠陥検査方法およびその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-280154 Applicant：阪上隆英, 住友大阪セメント株式会社, 株式会社中研コンサルタント, 株式会社コンステック

Cited by examiner (2)

欠陥検査方法およびその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-280154 Applicant：阪上隆英, 住友大阪セメント株式会社, 株式会社中研コンサルタント, 株式会社コンステック
非破壊検査方法及び装置、データ判定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-386432 Applicant：三菱重工業株式会社

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

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