Pat
J-GLOBAL ID:200903089045815826
α放射能測定装置および方法
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
三谷 惠 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998263429
Publication number (International publication number):2000088966
Application date: Sep. 17, 1998
Publication date: Mar. 31, 2000
Summary:
【要約】【課題】 複雑な形状の測定対象物であっても精度良くα放射能を定量できるα放射能測定装置および方法を提供することにある。【解決手段】 測定対象物1を収納すると共にα線により発光する物質を含む気体4を気密容器2に充填する。そして、α線により発光した気密容器2内の光を光電変換センサ5で検出し電気信号に変換し、光電変換センサ5からの電気信号を測定回路系6でパルス信号に変換しそのパルス数を計測する。データ処理計算機7は測定回路系で得られたパルス数に基づいてα放射能を算出する。
Claim (excerpt):
測定対象物を収納すると共にα線により発光する物質を含む気体が充填される気密容器と、前記気密容器内の光を検出し電気信号に変換する光電変換センサと、前記光電変換センサからの電気信号をパルス信号に変換しそのパルス数を計測する測定回路系と、前記測定回路系で得られたパルス数に基づいてα放射能を算出するデータ処理計算機とを備えたことを特徴とするα放射能測定装置。
IPC (3):
G01T 1/205
, G01T 1/167
, G01T 7/00
FI (3):
G01T 1/205
, G01T 1/167 C
, G01T 7/00 A
F-Term (20):
2G088EE17
, 2G088EE23
, 2G088FF04
, 2G088FF06
, 2G088GG10
, 2G088GG15
, 2G088GG18
, 2G088GG19
, 2G088GG21
, 2G088HH07
, 2G088HH08
, 2G088JJ09
, 2G088JJ11
, 2G088JJ25
, 2G088KK28
, 2G088KK29
, 2G088KK31
, 2G088LL06
, 2G088LL13
, 2G088MM05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
-
特開平4-050689
-
特開平2-272387
-
特開平2-115785
Return to Previous Page