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J-GLOBAL ID：200903089207937190

多点磁界測定装置

Inventor： 伊藤 隆 ,  石橋 和敏
Applicant, Patent owner： 旭化成電子株式会社
Agent (1)： 谷 義一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995255228
Publication number (International publication number)：1997101359
Application date： Oct. 02, 1995
Publication date： Apr. 15, 1997
Summary：

【要約】【課題】 多点磁界測定装置における磁気センサーICの出力の配線数を減らし、配線の複雑化による装置の信頼性の低下および装置組立上のコスト高などの問題を解決する。【解決手段】 複数の磁気センサーICを組合せて、位置axy(x=1〜m、y=1〜n)の磁束密度を測定する装置である。この多点磁界測定装置は、複数の磁気センサーICのそれぞれの入力端子は位置axyのy毎に共通となるn個の配線に分かれた入力配線に接続されており、複数の磁気センサーICのそれぞれの出力端子は位置axyのx毎に共通となるm個の配線に分かれた出力配線に接続されており、共通のn個に分かれた入力配線を介して時間分割により複数の磁気センサーICのそれぞれの入力端子に入力電圧を順次掃引印加し、共通のm個に分かれた出力配線を介して入力電圧の掃引印加と同期して複数の磁気センサーICのそれぞれの出力端子からの出力電圧を得る手段を有する。

Claim (excerpt)：

複数の磁気センサーICを組合せて、位置axy(x=1〜m、y=1〜n)の磁束密度を測定する装置において、前記複数の磁気センサーICのそれぞれの入力端子は位置axyのy毎に共通となるn個の配線に分かれた入力配線に接続されており、前記複数の磁気センサーICのそれぞれの出力端子は位置axyのx毎に共通となるm個の配線に分かれた出力配線に接続されており、前記共通のn個に分かれた入力配線を介して時間分割により前記複数の磁気センサーICのそれぞれの入力端子に入力電圧を順次掃引印加し、前記共通のm個に分かれた出力配線を介して前記入力電圧の掃引印加と同期して前記複数の磁気センサーICのそれぞれの出力端子からの出力電圧を得る手段を有することを特徴とする多点磁界測定装置。

IPC (2)：

G01R 33/02 ,  G01R 33/07

FI (2)：

G01R 33/02 Q ,  G01R 33/06 H

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平3-042587
  
• 電子楽器
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-156445   Applicant：ヤマハ株式会社
• 特開昭50-081482