Pat
J-GLOBAL ID:200903089274512233

X線露光用マスクの製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 高橋 敬四郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992139382
Publication number (International publication number):1993335217
Application date: May. 29, 1992
Publication date: Dec. 17, 1993
Summary:
【要約】【目的】 X線透過膜(マスク基板)上に形成したX線吸収体膜の加工を含むX線露光用マスクの製造方法に関し、所望形状からの変形の少ないX線透過パターンを得ることができるX線露光用マスクの製造方法を提供するを目的とする。【構成】 X線透過膜上にX線吸収体膜を形成する工程と、前記X線吸収体膜に働く内部応力を測定する工程と、前記X線吸収体膜を所定マスク形状にパターニングした時、応力分布の変化により生じるマスクの歪をシミュレートする工程と、前記マスク歪を補償するように逆方向に変形させたパターンで前記X線吸収体膜をパターニングする工程とを含む。
Claim (excerpt):
X線透過膜(2)上にX線吸収体膜(3)を形成する工程と、前記X線吸収体膜(3)に働く内部応力を測定する工程と、前記X線吸収体膜(3)を所定マスク形状にパターニングした時、応力分布の変化により生じるマスクの歪をシミュレートする工程と、前記マスク歪を補償するように逆方向に変形させたパターンで前記X線吸収体膜(3)をパターニングする工程とを含むX線露光用マスクの製造方法。
IPC (2):
H01L 21/027 ,  G03F 1/16

Return to Previous Page