Pat

J-GLOBAL ID：200903089281000108

空間差分を用いた光断層イメージング装置

Inventor： 金子 守
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 伊藤 進
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991299020
Publication number (International publication number)：1993130995
Application date： Nov. 14, 1991
Publication date： May. 28, 1993
Summary：

【要約】【目的】 常に被検体表面と照射したビーム光光軸との交点より出射した光を検出して、散乱光成分を精度良く抑制し、分解能のよい良好な断層像を得る。【構成】 光源4より被検体1にビーム光を照射し、このビーム光の光軸上に配置された光検出器(1)5、及びビーム光の光軸と所定の角度をなす軸上に配置された光検出器(2)によって、被検体1を透過した光を検出する。このとき、測距用光源12,ラインセンサ11,制御装置16により前記光検出器5,6と被検体1との距離を測定し、この距離に基づいて駆動装置17によりXステージ9を移動させ、光検出器5,6を変位させることにより、常にそれぞれの検出器で前記光軸と被検体表面との交点からの光を検出するようにする。そして、差分増幅器20,コンピュータ22により被検体の断層像を再構築し、表示装置23に表示する。

Claim (excerpt)：

被検体に照射するビーム光を発生する光源と、前記ビーム光の光軸上に配置され、前記ビーム光の被検体を透過した光あるいは被検体内部より反射してきた光を検出する第1の検出器と、前記ビーム光の光軸と所定の角度をなす軸上に配置され、前記ビーム光の被検体を透過した光あるいは被検体内部より反射してきた光を検出する第2の検出器と、前記第1及び第2の検出器と前記被検体との距離を測定する測距手段と、前記測距手段によって検出された距離に基づいて、前記光軸と前記被検体表面との交点からの光を検出するように前記第2の検出器を変位させる位置制御手段と、前記第1の検出器の出力と前記第2の検出器の出力とを演算し、これに基づいて被検体の断層画像情報を生成する断層像生成手段と、を備えたことを特徴とする空間差分を用いた光断層イメージング装置。

IPC (5)：

A61B 10/00 ,  G01N 21/17 ,  G01N 21/88 ,  G02B 23/24 ,  G06F 15/62 390