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J-GLOBAL ID：200903089335495973

クロマトグラム解析表示方法及びその装置

Inventor： 伊藤 正人 ,  三浦 順吉 ,  藤井 芳雄 ,  佐竹 尋志 ,  山田 富士夫 ,  伊藤 三男 ,  島根 亘由
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 春日 讓
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994041007
Publication number (International publication number)：1994324029
Application date： Mar. 11, 1994
Publication date： Nov. 25, 1994
Summary：

【要約】【目的】 濃度等の定量値や、リテンションタイム等の時間を高精度に決定し、その得られた数値に対する誤差を求め、定量値やピーク同定の信頼度を計算し、表示できるクロマトグラム解析表示方法及び表示装置を実現する。【構成】 タイムウィンドウ内の極大点や変曲点を探索し、ピーク同定する。この際、その極大点や変曲点の時間に関する誤差を求め、それからピーク同定における信頼度を計算し、表示する。また、重なりピークを数値処理し、分解する場合にも同様に、時間の誤差を求め、ピーク同定の信頼度を表示する。さらに、各成分の濃度や占有する面積百分率等の定量値に関しても誤差を求め、信頼度として表示する。この際、ベースラインの引き方、標準サンプルや検量線からの誤差伝搬、重なりピーク分解の信頼度等を考慮し、CRT等に表示される。

Claim (excerpt)：

クロマトグラムデータを解析し、解析結果を表示するクロマトグラム解析表示方法において、クロマトグラムデータのピークを検出するステップと、上記クロマトグラムデータのピークを同定するステップと、検出及び同定されたピークに対応するピークサイズを変数として、被測定物の定量値を算出するステップと、上記算出された定量値の誤差を、少なくとも上記変数を用いて算出するステップと、上記算出された定量値と、定量値の誤差とを表示手段に表示させるステップと、を備えることを特徴とするクロマトグラム解析表示方法。