Pat
J-GLOBAL ID:200903089355392984

容器のガス漏れの計測方法および装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 久保 幸雄
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000185630
Publication number (International publication number):2002005779
Application date: Jun. 21, 2000
Publication date: Jan. 09, 2002
Summary:
【要約】【課題】圧縮ガスの供給にともなう温度変化を実質的になくし、これによって計測された差圧D(t)の中に伝熱による差圧成分が含まれないようにし、計測の無駄時間をできるだけ抑えて短時間でガス漏れを計測すること。【解決手段】基準容器および被測定容器に対して圧縮ガスを供給した後に圧縮ガスの供給を停止し、その後における基準容器と被測定容器との間の差圧D(t)を計測することによって被測定容器のガス漏れを計測する方法において、基準容器および被測定容器に初期状態として残留するガスが圧縮ガスの供給により圧縮されることによって生じる昇温熱量と、供給した圧縮ガスの膨張による降温熱量とが釣り合うように圧縮ガスを供給する。
Claim (excerpt):
基準容器および被測定容器に対して圧縮ガスを供給した後に圧縮ガスの供給を停止し、その後における前記基準容器と前記被測定容器との間の差圧D(t)を計測することによって前記被測定容器のガス漏れを計測する方法において、前記基準容器および被測定容器に初期状態として残留するガスが圧縮ガスの供給により圧縮されることによって生じる昇温熱量と、供給した圧縮ガスの膨張による降温熱量とが釣り合うように前記圧縮ガスを供給する、ことを特徴とする容器のガス漏れの計測方法。
F-Term (3):
2G067BB28 ,  2G067CC04 ,  2G067DD03

Return to Previous Page