Pat

J-GLOBAL ID：200903089398093700

半導体X線検出器を有するX線検査装置

Inventor： ルットゥン,ヴァルター ,  シーベル,ウルリッヒ ,  ヴィツォレク,ヘルフリート カルル ,  コンラッズ,ノルベルト
Applicant, Patent owner： フィリップス エレクトロニクス エヌ ベー
Agent (1)： 伊東 忠彦 (外1名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1998504987
Publication number (International publication number)：1999513221
Application date： Jul. 01, 1997
Publication date： Nov. 09, 1999
Summary：

【要約】X線検査装置はX線を出射するX線源と、X線画像から画像信号を得るX線検出器とからなる。X線検出器は一以上のセンサ素子からなる半導体素子を含む。更にX線検査装置は電磁気放射でX線検出器を照射するバイアス放射源を設けられる。好ましくはバイアス放射源は赤外放射を出射するよう配置される。

Claim (excerpt)：

- X線を出射するX線源と、 - 半導体素子を含み、X線画像から画像信号を得るX線検出器とからなるX線検査装置であって、該X線検出器は、- 電磁気放射で半導体素子を照射するバイアス放射源を設けられていることを特徴とするX線検査装置。

IPC (4)：

H04N 5/32 ,  A61B 6/00 300 ,  G01N 23/04 ,  G01T 1/24

FI (4)：

H04N 5/32 ,  A61B 6/00 300 S ,  G01N 23/04 ,  G01T 1/24

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭56-166682
  
• 特開昭61-245666