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J-GLOBAL ID：200903089460024516

画像処理による異物検出方法および装置

Inventor：
山崎 正英

About 山崎 正英

, 
布施 匡章

About 布施 匡章


Applicant, Patent owner：
アンリツ株式会社

About アンリツ株式会社


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000123260
Publication number (International publication number)：2001307069
Application date： Apr. 24, 2000
Publication date： Nov. 02, 2001
Summary：
【要約】【課題】画像処理能力にあまり依存しない異物検出方法を提供する。【解決手段】ステップS1で入力された画像データを小領域に略等分割して該小領域毎に異物らしさを評価し、該小領域毎に求めた異物らしさの評価値を画素値とする縮小画像データを生成し(ステップS2)、該縮小画像データを基に異物強調処理(ステップS3)、しきい値処理(ステップS4)を行う。
Claim (excerpt)：
被検査物の物性情報を含む画像データを処理して混入異物の有無検出を行う異物検出方法において、前記画像データを小領域に略等分割して該小領域毎に異物らしさを評価し、該小領域毎に求めた異物らしさの評価値を画素値とする縮小画像データを生成する段階(S2)と、該縮小画像データにしきい値処理を適用して混入異物の有無を検出する段階(S4)とを有することを特徴とする異物検出方法。
IPC (3)：
G06T 1/00 300 ,  G01N 23/04 ,  H04N 1/393
FI (3)：
G06T 1/00 300 ,  G01N 23/04 ,  H04N 1/393
F-Term (38)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA08 ,  2G001FA06 ,  2G001FA08 ,  2G001FA30 ,  2G001HA13 ,  2G001JA09 ,  2G001KA03 ,  2G001LA01 ,  2G001NA17 ,  2G001PA11 ,  5B057AA02 ,  5B057BA03 ,  5B057CA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB02 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC02 ,  5B057CD05 ,  5B057CE06 ,  5B057CH09 ,  5B057DA16 ,  5B057DB02 ,  5B057DB05 ,  5B057DB09 ,  5B057DC16 ,  5B057DC22 ,  5C076AA22 ,  5C076AA36 ,  5C076BA06 ,  5C076BB40
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (7)
  • X線異物検出方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-133871   Applicant：株式会社島津製作所
  • X線式異物検査装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-180731   Applicant：株式会社島津製作所
  • X線異物検出方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-008880   Applicant：株式会社島津製作所
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