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J-GLOBAL ID：200903089508168078

測定データ記憶装置

Inventor： 鈴木 悟 ,  芳野 康裕 ,  桑原 美幸
Applicant, Patent owner： 横河電機株式会社
Agent (1)： 小沢 信助
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993289161
Publication number (International publication number)：1995128084
Application date： Nov. 18, 1993
Publication date： May. 19, 1995
Summary：

【要約】【目的】 取り込み周期間のアナログ測定信号のレベル変動を反映した形態で測定データを格納することにより限られたメモリ容量を有効に利用できる測定データ記憶装置を実現することにある。【構成】 アナログ測定信号をサンプルクロックに従ってデジタル信号に変換するA/D変換器と、このA/D変換器から出力されるデジタル信号に対して任意に設定される取り込み区分毎に統計演算処理を行う手段と、各取り込み区分毎に求められた統計演算処理結果を逐次格納する記憶手段、とで構成されたことを特徴とする。

Claim (excerpt)：

アナログ測定信号をサンプルクロックに従ってデジタル信号に変換するA/D変換器と、このA/D変換器から出力されるデジタル信号に対して任意に設定される取り込み区分毎に統計演算処理を行う手段と、各取り込み区分毎に求められた統計演算処理結果を逐次格納する記憶手段、とで構成されたことを特徴とする測定データ記憶装置。

IPC (2)：

G01D 1/00 ,  G01D 9/00

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 特開平3-042520
  
• 特開平3-042520
  
• 特開昭59-147212
  
• 特開昭59-147212
  
• 特開平4-335116