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J-GLOBAL ID：200903089510519945

構造体の劣化診断方法及び蛍光構造体

Inventor： 渡部 雅人 ,  長野 宏治 ,  杉山 聡 ,  磯崎 正則 ,  土師 弘敬 ,  安富 義幸
Applicant, Patent owner： 日立電線株式会社 ,  東京電力株式会社 ,  財団法人ファインセラミックスセンター
Agent (1)： 絹谷 信雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999334809
Publication number (International publication number)：2001153788
Application date： Nov. 25, 1999
Publication date： Jun. 08, 2001
Summary：

【要約】【課題】 目視による構造体の劣化の診断を正確かつ容易に行うことができる新規な構造体の劣化診断方法及び蛍光構造体の提供。【解決手段】 構造体1の表面に蛍光材料を含む蛍光層2を形成すると共にその蛍光層2の表面に遮光性の被覆層3を形成しておき、その被覆層3が外的影響によって劣化してその内側の蛍光層2が露出したときに、その露出した部分の蛍光状態を目視により直接又は間接的に観察してその構造体の劣化状況を診断する。これによって目視による構造体の劣化の診断を正確かつ容易に行うことができる。

Claim (excerpt)：

構造体の表面に蛍光材料を含む蛍光層を形成すると共にその蛍光層の表面に遮光性の被覆層を形成しておき、その被覆層が外的影響によって劣化してその内側の蛍光層が露出したときに、その露出した部分の蛍光状態を目視により直接又は間接的に観察してその構造体の劣化状況を診断するようにしたことを特徴とする構造体の劣化診断方法。

IPC (2)：

G01N 17/00 ,  G01N 21/64

FI (2)：

G01N 17/00 ,  G01N 21/64 F

F-Term (28)：

2G043AA03 ,  2G043BA14 ,  2G043CA07 ,  2G043DA01 ,  2G043DA02 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043GA07 ,  2G043GB21 ,  2G043KA03 ,  2G043LA01 ,  2G050AA01 ,  2G050AA02 ,  2G050AA04 ,  2G050BA01 ,  2G050BA04 ,  2G050BA05 ,  2G050BA09 ,  2G050BA10 ,  2G050BA12 ,  2G050CA01 ,  2G050CA02 ,  2G050CA04 ,  2G050DA03 ,  2G050EA01 ,  2G050EA03 ,  2G050EB07 ,  2G050EC06