Pat
J-GLOBAL ID：200903089524938355

分光特性測定装置

Inventor：
松本 和二

About 松本 和二

, 
西沢 充哲

About 西沢 充哲

, 
飯田 等

About 飯田 等


Applicant, Patent owner：
浜松ホトニクス株式会社

About 浜松ホトニクス株式会社


Agent (1)： 長谷川 芳樹 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998319171
Publication number (International publication number)：2000146694
Application date： Nov. 10, 1998
Publication date： May. 26, 2000
Summary：
【要約】【課題】 測定対象物内に含まれる微量成分量を精度良く推定することができる分光特性測定装置を提供する。【解決手段】 分光特性測定装置10は、本体12と遮光ケース14とを備えて構成され、本体12の内部には、2つの単色光源ユニット28,30、白色光源ユニット32、受光センサユニット34、分光センサユニット36、制御ユニット38及び電源ユニット40が設けられている。制御ユニット38は、受光センサユニット34によって検出された光に基づいて、測定対象物内における単色光の平均光路長を算出する平均光路長算出部と、分光センサユニット36によって検出された白色光と平均光路長算出部によって算出された平均光路長とに基づいて、測定対象物の分光特性を算出する分光特性算出部とを有している。
Claim (excerpt)：
測定対象物の分光特性を測定する分光特性測定装置において、前記測定対象物表面上の所定の投射箇所から前記測定対象物の内部に光を投射する第1の光投射手段と、前記第1の光投射手段によって投射され、前記測定対象物表面上の所定の出射箇所から出射する光を検出する第1の光検出手段と、前記第1の光検出手段によって検出された光に基づいて、前記入射箇所から前記出射箇所までの平均光路長を算出する平均光路長算出手段と、前記投射箇所から前記測定対象物の内部に所定の波長帯域を有する光を投射する第2の光投射手段と、前記第2の光投射手段によって投射され、前記出射箇所から出射する光を検出する第2の光検出手段と、前記第2の光検出手段によって検出された前記波長帯域における光と前記平均光路長算出手段によって算出された前記平均光路長とに基づいて、前記測定対象物の分光特性を算出する分光特性算出手段とを備えたことを特徴とする分光特性測定装置。
IPC (2)：
G01J 3/42 ,  A61B 5/145
FI (2)：
G01J 3/42 ,  A61B 5/14 310
F-Term (30)：
2G020AA03 ,  2G020AA04 ,  2G020AA05 ,  2G020BA05 ,  2G020BA20 ,  2G020CA02 ,  2G020CA03 ,  2G020CB07 ,  2G020CB23 ,  2G020CB25 ,  2G020CB26 ,  2G020CB27 ,  2G020CB32 ,  2G020CB42 ,  2G020CB43 ,  2G020CC02 ,  2G020CC21 ,  2G020CC31 ,  2G020CC48 ,  2G020CD13 ,  2G020CD23 ,  2G020CD24 ,  2G020CD35 ,  2G020CD37 ,  2G020CD56 ,  2G020CD58 ,  4C038KK01 ,  4C038KL07 ,  4C038KM01 ,  4C038KX02
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
Show all
Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM