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J-GLOBAL ID:200903089574943252
形状測定装置
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
香山 秀幸
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000302385
Publication number (International publication number):2002107128
Application date: Oct. 02, 2000
Publication date: Apr. 10, 2002
Summary:
【要約】【課題】 この発明は、被測定物の3次元形状を光切断法によって測定した際に、被測定物の特定の部位の位置をも検出することが可能となる部位特定用マーカを提供することを目的とする。【解決手段】 被測定物に対してスリット光を投影し被測定物に投影されたスリット光を撮像素子で観察することにより被測定物の形状を測定し、測定結果を、撮像素子で観察されたスリット光の輝度に応じて色を変えて曲線で表示するといった形状測定を行なう際に、被測定物の所定の部位の位置を検出する目的で被測定物の所定の部位に貼られる部位特定用マーカにおいて、シート状であり、中央部の外側面にスリット光を反射する色が塗られており、中央部の周囲の外側面にスリット光を吸収する色が塗られている。
Claim (excerpt):
被測定物に対してスリット光を投影し被測定物に投影されたスリット光を撮像素子で観察することにより被測定物の形状を測定し、測定結果を、撮像素子で観察されたスリット光の輝度に応じて色を変えて曲線で表示するといった形状測定を行なう際に、被測定物の所定の部位の位置を検出する目的で被測定物の所定の部位に貼られる部位特定用マーカにおいて、シート状であり、中央部の外側面にスリット光を反射する色が塗られており、中央部の周囲の外側面にスリット光を吸収する色が塗られていることを特徴とする部位特定用マーカ。
IPC (3):
G01B 11/24
, A43D 1/02
, G01B 11/25
FI (4):
A43D 1/02
, G01B 11/24 K
, G01B 11/24 A
, G01B 11/24 E
F-Term (23):
2F065AA53
, 2F065BB28
, 2F065CC16
, 2F065FF01
, 2F065FF02
, 2F065FF05
, 2F065FF09
, 2F065FF15
, 2F065FF46
, 2F065GG06
, 2F065GG07
, 2F065GG25
, 2F065HH05
, 2F065JJ03
, 2F065JJ05
, 2F065JJ26
, 2F065MM09
, 2F065QQ23
, 2F065SS13
, 4F050AA01
, 4F050AA06
, 4F050LA01
, 4F050NA88
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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特開昭63-016208
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形状測定方法とその測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-164865
Applicant:松下電器産業株式会社
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形状測定方法および形状測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-206864
Applicant:三洋電機株式会社
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