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J-GLOBAL ID:200903089619887480

座標入力装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 松本 眞吉
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1991340988
Publication number (International publication number):1993173695
Application date: Dec. 24, 1991
Publication date: Jul. 13, 1993
Summary:
【要約】【目的】本発明は、スペーサを介し対向配置された抵抗膜間の接触位置座標を、一方の抵抗膜上の電極間に電圧を印加した状態で他方の抵抗膜を介して接触点の電圧を測定することにより検出する座標入力装置に関し、接触点の位置座標を精度よく検出し、筆圧を検出することを目的とする。【構成】座標を連続してN回検出し、検出座標のばらつきが所定値以下のとき該検出座標の平均値を有効な座標とし、このような処理を連続してK回繰り返し、最後に得られた有効な座標を検出座標として出力し、K回繰り返しの際に有効な座標の個数を計数し、この個数を筆圧として出力する。
Claim (excerpt):
2枚の抵抗膜(13、23)をスペーサを介して対向配置し、各該抵抗膜について、該抵抗膜上に2つの電極(11、12、21、22)を形成し一方の該電極にスイッチ素子(T1、T3)を介して高電位を印加し他方の該電極にスイッチ素子(T2、T4)介して低電位を印加し、接触検出手段(1)で該抵抗膜間の接触を検出し、座標検出手段(2)で、該接触検出後に、一方の該抵抗膜(13)上の両電極に接続されたスイッチ素子をオンにしかつ他方の該抵抗膜(23)上の両電極に接続されたスイッチ素子をオフにし該他方の抵抗膜(23)上の電極の電圧を測定し、該他方の抵抗膜(23)上の両電極に接続されたスイッチ素子をオンにしかつ該一方の抵抗膜(13)上の両電極に接続されたスイッチ素子をオフにし該一方の抵抗膜(13)上の電極の電圧を測定し、両測定電圧に基づいて該抵抗膜間の接触点の座標を検出する座標入力装置において、該座標を連続してN回検出し、検出座標の散布度が所定値以下のとき該検出座標の平均値を有効な座標とするN回座標検出手段(3)と、該N回座標検出手段による処理を連続してK回実行させて、最後に得られた有効な座標を検出座標として出力するK回繰り返し・座標決定手段(4)と、を有することを特徴とする座標入力装置。
IPC (3):
G06F 3/03 320 ,  G06F 3/03 310 ,  G06F 3/03 380

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