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J-GLOBAL ID：200903089655875189

レーザ測距装置

Inventor： 森岡 達也 ,  下中 淳 ,  種谷 元隆 ,  瀧口 治久
Applicant, Patent owner： シャープ株式会社
Agent (1)： 山本 秀策
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992325807
Publication number (International publication number)：1994174844
Application date： Dec. 04, 1992
Publication date： Jun. 24, 1994
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 環境温度変化による測定誤差を防ぐことができ、光学部品の削減ができ、一体化・小型化でき、光学調整が容易で、測定精度の高いレーザ測距装置を提供する。【構成】 周波数が周期的に変調されているレーザ101からの出射光を光分割合成手段103によって参照光1及び2、測定光3及び4とに分割する。そして、測定光4を測定対象物108に照射して反射させ、参照光1を反射体104によって反射させて、両者からビート信号を得る。また、測定光3を反射体105(光学的距離既知)によって反射させ、参照光2を反射体104によって反射させて、各光の光路差によりビート信号を得る。各組の光は再度ビームスプリッター103を通って合成され、光検出器106に入射される。基準光学系により周波数変調量の変化によって生じる誤差を防ぐ。光学部品の共通使用により小型化および部品点数の削減が可能となる。

Claim (excerpt)：

周波数を周期的に変調したレーザ光を出射する光源と、該光源から出射されたレーザ光を基準光学系用測定光および参照光と測距光学系用測定光および参照光とに分割し、測距光学系用測定光を測定対象物に向けて出射し、再び戻ってきた測距光学系用測定光と参照光とを合成する光分割合成手段と、該光分割合成手段から出射された基準光学系用測定光の光路上に、該光分割合成手段からの光学的距離を既知に設けた、1または2以上の基準光学系用反射体と、該光分割合成手段から出射された測距光学系用参照光および基準光学系用参照光の光路上に、外光分割合成手段からの光学的距離を既知に設けた1または2以上の参照光用反射体と、該光分割手段により合成された光を受光し、受光した光に基づいて該測定対象物までの離隔距離を検出する検出器と、を有するレーザ測距装置。