Pat
J-GLOBAL ID：200903089690726293
超音波探傷方法及び装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
高矢 諭 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992210169
Publication number (International publication number)：1994058908
Application date： Aug. 06, 1992
Publication date： Mar. 04, 1994
Summary：
【要約】【目的】 一度に一定幅の線状の領域の探傷を可能として、被検査板の中の微細なきずを、被検査板の全面に亘り、少ない超音波センサ数で検出能を高く検出できるようにする。【構成】 超音波送信子22から一方向に集束した帯状の超音波ビーム24を被検査板10に向けて送信し、被検査板に入射した超音波によって生起されたきずからの反射波30を、1次元アレー型超音波センサ40によって受信する。
Claim (excerpt)：
超音波送信子から、一方向に集束した帯状の超音波ビームを被検査板に向けて送信し、該被検査板に入射した超音波によって生起されたきずからの反射波を、1次元アレー型超音波センサによって受信することを特徴とする超音波探傷方法。
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
Show all
Return to Previous Page
