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J-GLOBAL ID：200903089751664873

画像処理計測装置及び計測内視鏡装置

Inventor：
小川 清富

About 小川 清富


Applicant, Patent owner：
オリンパス光学工業株式会社

About オリンパス光学工業株式会社


Agent (1)： 伊藤 進
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001162868
Publication number (International publication number)：2002345735
Application date： May. 30, 2001
Publication date： Dec. 03, 2002
Summary：
【要約】【課題】凹凸情報の基準となる凹凸基準線の信頼度を高め、対象物の凹凸の状況に関するより正確な情報をユーザに提供する。【解決手段】 処理部(CCU25、CPU26、ROM27、RAM28及び映像信号処理回路33)には、前記観察画像上の任意の点の3次元座標を推定し、その推定結果と共に前記推定結果の信頼度を求める推定手段と、断面情報生成手段と、凹凸基準線設定手段と、凹凸情報生成手段と、凹凸情報加工手段とを具えてている。前記凹凸基準線設定手段は、前記推定手段の推定結果の信頼度を元に、前記切断基準線上の点の信頼度を評価し、信頼度が高いと判断された点だけを取り出し新たな両端を設定する。そして、前記凹凸基準線設定手段は、その設定した新たな両端から、前記断面情報を所定の基準からの相対的な凹凸を示す凹凸情報に加工するための前記所定の基準となる凹凸基準線を設定する。
Claim (excerpt)：
観察のための一つまたは複数の撮像部と、観察対象を、一つまたは複数の視点からの観察画像として、前記撮像部に結像させる一つまたは複数の観察光学系と、前記撮像部からの信号を受け、この信号の処理を行い映像信号を生成する処理部と、前記処理部からの映像信号を受けて前記観察画像を表示する表示装置と、前記観察画像上の任意の点の3次元座標を、前記撮像部によって得られる各視点の画像信号を元に推定し、その推定結果と共に前記推定結果の信頼度を求める推定手段と、前記観察対象の切断面の位置を設定する基準となる切断基準線を入力する切断基準線入力手段と、前記推定手段の推定結果を元に、前記切断面における前記観察対象の断面情報を生成する断面情報生成手段と、前記推定手段の推定結果の信頼度を元に、前記切断基準線上または前記切断基準線とその延長線上の点の信頼度を評価し、信頼度が高いと判断された点だけを取り出し新たな両端を設定し、その新たな両端から所定の基準となる凹凸基準線を設定する凹凸基準線設定手段と、前記断面情報を前記凹凸基準線からの相対的な凹凸を示す凹凸情報に加工することにより前記凹凸情報を生成する凹凸情報生成手段と、前記凹凸情報を可視化された凹凸指標に加工する凹凸情報加工手段と、前記凹凸指標を表示する凹凸指標表示手段と、を具備することを特徴とする画像処理計測装置。
IPC (10)：
A61B 1/00 300 ,  G01B 11/00 ,  G02B 23/24 ,  G06T 7/00 ,  G06T 7/00 300 ,  H04N 5/225 ,  H04N 5/335 ,  H04N 7/18 ,  H04N 13/00 ,  H04N 13/02
FI (12)：
A61B 1/00 300 D ,  G01B 11/00 H ,  G02B 23/24 A ,  G02B 23/24 B ,  G02B 23/24 C ,  G06T 7/00 C ,  G06T 7/00 300 C ,  H04N 5/225 C ,  H04N 5/335 Z ,  H04N 7/18 M ,  H04N 13/00 ,  H04N 13/02
F-Term (77)：
2F065AA04 ,  2F065AA49 ,  2F065AA51 ,  2F065BB05 ,  2F065DD12 ,  2F065FF04 ,  2F065FF05 ,  2F065JJ03 ,  2F065MM13 ,  2F065PP04 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ38 ,  2F065SS02 ,  2F065UU05 ,  2H040BA15 ,  2H040BA22 ,  2H040CA23 ,  2H040DA18 ,  2H040GA02 ,  2H040GA11 ,  4C061CC06 ,  4C061HH53 ,  4C061SS21 ,  4C061WW15 ,  5C022AA09 ,  5C022AB15 ,  5C022AC01 ,  5C022AC08 ,  5C022AC31 ,  5C022AC42 ,  5C022AC52 ,  5C022AC54 ,  5C024BX02 ,  5C024BX06 ,  5C024CY14 ,  5C024CY15 ,  5C024DX04 ,  5C024DX06 ,  5C024DX08 ,  5C024EX12 ,  5C024EX42 ,  5C024EX54 ,  5C024HX57 ,  5C054AA01 ,  5C054CC02 ,  5C054CC05 ,  5C054CC07 ,  5C054CF05 ,  5C054CH02 ,  5C054EA01 ,  5C054EA05 ,  5C054EA07 ,  5C054ED12 ,  5C054FC12 ,  5C054FC14 ,  5C054FC15 ,  5C054FD03 ,  5C054FD05 ,  5C054GA04 ,  5C054GB11 ,  5C054GB15 ,  5C054HA12 ,  5C061AA01 ,  5C061AB03 ,  5C061AB08 ,  5C061AB12 ,  5C061AB21 ,  5L096AA09 ,  5L096BA03 ,  5L096CA05 ,  5L096CA24 ,  5L096DA01 ,  5L096DA02 ,  5L096FA38 ,  5L096FA69 ,  5L096JA25
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (7)
  • 計測用内視鏡装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-151092   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
  • 被写体計測表示装置及び被写体計測表示方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-349434   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
  • 内視鏡装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-247588   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
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