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J-GLOBAL ID：200903089760102934
自動光透過度測定装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (1)：
柳原 成
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994031533
Publication number (International publication number)：1995244004
Application date： Mar. 01, 1994
Publication date： Sep. 19, 1995
Summary：
【要約】【目的】 公定法に準拠して光透過率、曇り点を自動的に測定でき、測定によるノイズが少なく、測定の感度および精度が高い自動光透過度測定装置を得る。【構成】 試料室2を有するフローセルタイプの測定セル1に設け発光部3および受光部4からライトガイド9、15を試料室2内に挿入して同軸上で対向させ、測定セル1には試料室への流入系21および流出系23を設けるとともに、温度測定部25および加熱冷却部29を設けて温度制御部34により定値制御またはグラジエント制御し、演算制御回路37において受光部4および温度測定部25の出力から光透過率を検出し、光透過率の変化を時間変化または温度変化で微分して最大変化率発現温度を演算して曇り点を検出することにより、自動的に光透過度を測定する装置。
Claim (excerpt)：
試料室(2)を有するフローセルタイプの測定セル(1)と、この測定セル(1)の一端部(1a)側に設けられた発光部(3)および他端部(1b)側に設けられた受光部(4)と、この発光部(3)および受光部(4)から前記試料室(2)内に伸び、それぞれの先端部が同軸上で対向するように配置された照射側ライトガイド(9)および入射側ライトガイド(15)と、前記試料室(2)に試料を導入または排出する流入系(21)および流出系(23)と、前記試料室(2)内の試料の温度を測定する温度測定部(25)と、前記試料室(2)内の試料を加熱または冷却する加熱冷却部(29)と、この加熱冷却部(29)を定値制御またはグラジエント制御する温度制御部(34)と、前記受光部(4)および温度測定部(25)の出力から光透過率を検出し、光透過率の変化を時間変化または温度変化で微分して最大変化率発現温度を検出する演算制御回路(37)とを備えていることを特徴とする自動光透過度測定装置。
IPC (2)：
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