3次元形状検出方法および装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：小川勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991336599
Publication number (International publication number)：1993164520
Application date： Dec. 19, 1991
Publication date： Jun. 29, 1993
Summary：

【要約】【目的】種々の光反射特性を有する工業製品の3次元形状の検出は光では困難なことが多い。本発明は、このような物体を、明・暗、光沢面、梨地面をとわず、安定に3次元形状を光学的に検出しようとするものである。【構成】物体1、1’に、偏光レ-ザ10による光点を照射する。この光点からの反射光を結像レンズで集光して光検知器5で検出し、光点の情報から高さ情報を検出する。このとき反射光量は物体面の反射条件により、強弱に変化するが、対数型特性の検出器5、光量制御装置16による光量制御、偏光板11を用いることによって、これに適応し、物体1、1’の3次元情報を検出する。【効果】従来、種々の光反射状態を有するを物体の3次元形状検出は困難であった。本発明によって金属加工部品、電子実装基板、その他白色・黒色を含む物体においても3次元形状の検出が可能となり、検査・計測・位置認識等の自動化が可能となる。

Claim (excerpt)：

偏光レ-ザ光を絞り込んで3次元物体に照射し、該3次元物体から偏光方向の整った反射光を遮光して検出器で受光し、該検出器から検出される信号に基いて3次元物体の形状を検出することを特徴とする3次元形状検出方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (15)

特開平1-123102
特開昭61-031909
特開平1-123102

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