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J-GLOBAL ID：200903089890462851

半導体式放射線検出器並びにその測定装置

Inventor： 北口 博司 ,  宮井 裕史 ,  山海 滋 ,  海原 明久
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995008696
Publication number (International publication number)：1996201525
Application date： Jan. 24, 1995
Publication date： Aug. 09, 1996
Summary：

【要約】【構成】半導体放射線検出素子1を実装する基板の余分な表面あるいは裏面に銅板等の接地した導電性金属板8を設け、検出素子1の周りの外来電波の侵入を遮断する検出器と、それを用いた測定装置。【効果】外来電波を遮断するシールドルーム設備を用いず低透過力の放射線を高感度で測定可能にする。

Claim (excerpt)：

放射線検出の入射窓を開放あるいは薄膜を設ける半導体式放射線検出器において、検出素子の実装基板に、前記検出素子と電気的に絶縁した状態で導電性の金属板あるいは蒸着板を設けることを特徴とする半導体式放射線検出器。

IPC (3)：

G01T 1/24 ,  G01B 15/00 ,  H01L 31/09