Pat
J-GLOBAL ID:200903089892521910
レジスト組成物
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
野口 恭弘
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000281168
Publication number (International publication number):2002090997
Application date: Sep. 18, 2000
Publication date: Mar. 27, 2002
Summary:
【要約】【課題】化学増幅型レジストとして特に放射線に対する透明性に優れ、さらに感度、解像度、平坦性、耐熱性等に優れたレジストパターンを与えるレジスト用組成物を提供する。【解決手段】式1で表される化合物またはその誘導体からなるジエン系モノマー(a)のモノマー単位と含フッ素ビニルモノマー(b)のモノマー単位とが環化反応した環状構造の繰り返し単位を含み、かつ含フッ素ビニルモノマー(b)に由来するブロック化された酸性基を有する含フッ素ポリマー(A)、光照射を受けて酸を発生する酸発生化合物(B)および有機溶媒(C)を含むことを特徴とするレジスト組成物。CH2=CH-X-CH=CH2 式1式中、Xはメチレン基または酸素原子を表す。
Claim (excerpt):
式1)で表される化合物またはその誘導体からなるジエン系モノマー(a)のモノマー単位と含フッ素ビニルモノマー(b)のモノマー単位とが環化反応した環状構造の繰り返し単位を含み、かつ含フッ素ビニルモノマー(b)に由来するブロック化された酸性基を有する含フッ素ポリマー(A)、光照射を受けて酸を発生する酸発生化合物(B)および有機溶媒(C)を含むことを特徴とするレジスト組成物。CH2=CH-X-CH=CH2 式1)式中、Xはメチレン基または酸素原子を表す。
IPC (8):
G03F 7/038 601
, C08F216/12
, C08F216/14
, C08F236/04
, C08K 5/00
, C08L 29/10
, C08L 47/00
, H01L 21/027
FI (8):
G03F 7/038 601
, C08F216/12
, C08F216/14
, C08F236/04
, C08K 5/00
, C08L 29/10
, C08L 47/00
, H01L 21/30 502 R
F-Term (41):
2H025AA01
, 2H025AA02
, 2H025AA09
, 2H025AA10
, 2H025AA18
, 2H025AB16
, 2H025AC04
, 2H025AC05
, 2H025AC06
, 2H025AC08
, 2H025AD03
, 2H025BE00
, 2H025BE10
, 2H025BG00
, 2H025CB12
, 2H025CB41
, 2H025CC03
, 4J002BE041
, 4J002BL001
, 4J002EB106
, 4J002EQ016
, 4J002EU186
, 4J002EV296
, 4J002EW176
, 4J002GP03
, 4J100AE38Q
, 4J100AE64P
, 4J100AS01P
, 4J100AS06P
, 4J100BA03P
, 4J100BA03Q
, 4J100BA07Q
, 4J100BA16Q
, 4J100BA56Q
, 4J100BB12Q
, 4J100BB18Q
, 4J100BC43Q
, 4J100CA04
, 4J100HA40
, 4J100HC04
, 4J100JA38
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