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J-GLOBAL ID:200903089892521910

レジスト組成物

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 野口 恭弘
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000281168
Publication number (International publication number):2002090997
Application date: Sep. 18, 2000
Publication date: Mar. 27, 2002
Summary:
【要約】【課題】化学増幅型レジストとして特に放射線に対する透明性に優れ、さらに感度、解像度、平坦性、耐熱性等に優れたレジストパターンを与えるレジスト用組成物を提供する。【解決手段】式1で表される化合物またはその誘導体からなるジエン系モノマー(a)のモノマー単位と含フッ素ビニルモノマー(b)のモノマー単位とが環化反応した環状構造の繰り返し単位を含み、かつ含フッ素ビニルモノマー(b)に由来するブロック化された酸性基を有する含フッ素ポリマー(A)、光照射を受けて酸を発生する酸発生化合物(B)および有機溶媒(C)を含むことを特徴とするレジスト組成物。CH2=CH-X-CH=CH2 式1式中、Xはメチレン基または酸素原子を表す。
Claim (excerpt):
式1)で表される化合物またはその誘導体からなるジエン系モノマー(a)のモノマー単位と含フッ素ビニルモノマー(b)のモノマー単位とが環化反応した環状構造の繰り返し単位を含み、かつ含フッ素ビニルモノマー(b)に由来するブロック化された酸性基を有する含フッ素ポリマー(A)、光照射を受けて酸を発生する酸発生化合物(B)および有機溶媒(C)を含むことを特徴とするレジスト組成物。CH2=CH-X-CH=CH2 式1)式中、Xはメチレン基または酸素原子を表す。
IPC (8):
G03F 7/038 601 ,  C08F216/12 ,  C08F216/14 ,  C08F236/04 ,  C08K 5/00 ,  C08L 29/10 ,  C08L 47/00 ,  H01L 21/027
FI (8):
G03F 7/038 601 ,  C08F216/12 ,  C08F216/14 ,  C08F236/04 ,  C08K 5/00 ,  C08L 29/10 ,  C08L 47/00 ,  H01L 21/30 502 R
F-Term (41):
2H025AA01 ,  2H025AA02 ,  2H025AA09 ,  2H025AA10 ,  2H025AA18 ,  2H025AB16 ,  2H025AC04 ,  2H025AC05 ,  2H025AC06 ,  2H025AC08 ,  2H025AD03 ,  2H025BE00 ,  2H025BE10 ,  2H025BG00 ,  2H025CB12 ,  2H025CB41 ,  2H025CC03 ,  4J002BE041 ,  4J002BL001 ,  4J002EB106 ,  4J002EQ016 ,  4J002EU186 ,  4J002EV296 ,  4J002EW176 ,  4J002GP03 ,  4J100AE38Q ,  4J100AE64P ,  4J100AS01P ,  4J100AS06P ,  4J100BA03P ,  4J100BA03Q ,  4J100BA07Q ,  4J100BA16Q ,  4J100BA56Q ,  4J100BB12Q ,  4J100BB18Q ,  4J100BC43Q ,  4J100CA04 ,  4J100HA40 ,  4J100HC04 ,  4J100JA38

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