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J-GLOBAL ID：200903089892930305

レーザーイオン化質量分析方法及び装置

Inventor： 辻下 正秀 ,  横尾 雅一
Applicant, Patent owner： 大阪瓦斯株式会社
Agent (1)： 北村 修一郎 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000061936
Publication number (International publication number)：2001249115
Application date： Mar. 07, 2000
Publication date： Sep. 14, 2001
Summary：

【要約】【課題】 レーザーイオン化質量分析手法により、単環もしくは多環有機塩素化合物を、これまで測定されてこなかった低濃度域まで精度よく検出する。【解決手段】 レーザーイオン化質量分析方法を使用して、ベンゼン環に塩素のついた単環もしくは多環有機塩素化合物の分析にあたって、レーザー光として、単環もしくは多環有機塩素化合物を励起可能な波長を中心波長とし、スペクトル線幅が4から40pmの範囲内にあるレーザー光を使用する。

Claim (excerpt)：

試料ガスをキャリヤガスにより分子ビームとしてイオン化室に導入し、前記分子ビームにレーザー光を照射してイオン化すると共に、発生されるイオンによるイオン電流を検出して前記試料ガスの質量分析をおこなうレーザーイオン化質量分析方法であって、ベンゼン環に塩素のついた単環もしくは多環有機塩素化合物の分析にあたって、前記レーザー光として、前記単環もしくは多環有機塩素化合物を励起可能な波長を中心波長とし、スペクトル線幅が4から40pmの範囲内にあるレーザー光を使用するレーザーイオン化質量分析方法。

IPC (2)：

G01N 27/62 ZAB ,  G01N 27/64

FI (2)：

G01N 27/62 ZAB V ,  G01N 27/64 B