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J-GLOBAL ID：200903089963878130

故障診断装置

Inventor： 多賀須 誠 ,  鈴木 達也 ,  高橋 哲 ,  影井 康夫 ,  古山 雅章 ,  阿部 邦宏
Applicant, Patent owner： 富士重工業株式会社
Agent (1)： 伊藤 進
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994059570
Publication number (International publication number)：1995271598
Application date： Mar. 29, 1994
Publication date： Oct. 20, 1995
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 複数種類の知識データに基づいて推論により仮説を探究しても、常に統一した探究結果が得られるようにする。【構成】 推論機構部14の各推論部14b,14cでは、入力された不具合現象から対応するそれぞれの知識データを利用して故障原因を推論により探究し仮説を生成し、各推論部14b,14cで生成した仮説が整合する場合には、この仮説を結論仮説として出力し、各仮説が競合する場合には、再推論用データを上記各仮説から一定の基準に従って選択した仮説に基づいて作成して再推論を行う。そして、所定回数再推論を行っても仮説が競合する場合には、予め設定した優先順位に従って上記各知識データから結論仮説を導き出す。この優先順位は、信頼性の高い順に、FTA型知識データ>FMECA型知識データ>診断事例型知識データとする。その結果、常に統一した結論仮説を得ることができる。

Claim (excerpt)：

故障診断に必要な知識データを記憶する知識ベース部(16)と、この知識データを利用して故障原因を推論により探究する推論機構部(14)とを有する故障診断装置において、前記知識ベース部(16)に、過去の診断事例を知識データとして記憶する診断事例型知識データ記憶部(16a)と、不具合現象と故障原因との因果関係を理論的に分析し仮説の集合としてツリー状に表した知識データを記憶する故障樹木解析型知識データ記憶部(16b)と、不具合現象と故障原因とを確信度で結び付けマトリクス状に整理して記憶する故障モード影響分析型知識データ記憶部(16c)とを備え、上記推論機構部(14)に、入力された不具合現象と同一又は類似の不具合現象を上記診断事例型知識データ記憶部(16a)に記憶されている知識データから探索して故障原因を探究し仮説を生成する事例ベース推論部(14c)と、入力された不具合現象に結びつく故障原因を上記故障樹木解析型知識データ記憶部(16b)に記憶されている知識データを利用して推論により探究し仮説を生成すると共に、入力された不具合現象と同一又は類似の不具合現象を上記故障モード影響分析型知識データ記憶部(16c)に記憶されている知識データから探索し、探索した不具合現象と故障原因とを結ぶ確信度に従って故障原因を探究し仮説を生成するルール・ベース推論部(14b)と、上記各推論部(14b,14c)で生成した仮説の整合性を判断し各仮説が整合している場合にはこの仮説を推論結果として出力し、一方上記各推論部(14b,14c)で生成した仮説が競合する場合には、この競合する仮説の少なくとも1つを選択し、この選択した仮説と上記不具合現象とに基づいて上記各推論部(14b,14c)で再推論を実行させ、更に複数回再推論を実行しても仮説の競合が解消されない場合には、上記故障樹木解析型知識データ記憶部(16b)に記憶されている知識データに基づいて生成した仮説を探究結果として出力し、一方この故障樹木解析型知識データ記憶部(16b)に記憶されている知識データで仮説が生成されていない場合には、上記故障モード影響分析型知識データ記憶部(16c)に記憶されている知識データに基づいて生成した仮説を探究結果として出力し、更にこの故障モード影響分析型知識データ記憶部(16c)の知識データで仮説が生成されていない場合には、上記診断事例型知識データ記憶部(16a)に記憶されている知識データに基づいて生成した仮説を結論仮説として出力する推論制御部(14d)とを備えることを特徴とする故障診断装置。

IPC (5)：

G06F 9/44 560 ,  G06F 9/44 550 ,  B64F 5/00 ,  G01M 17/007 ,  G01M 19/00